Microscopio con sonda di scansione TESLA JT SPM

da laboratorioin-situda banco

> Tempo di misura ininterrotto di 5 giorni in campi magnetici variabili con solo 11 L LHe Temperature fino a 1 K con 4He Deriva termica ultra bassa Campi magnetici BZ > 3 T Accesso ottico STM e QPlus® AFM Design ergonomico ed espandibile ai cluster Il TESLA JT SPM è un microscopio a bassa temperatura raffreddato Joule-Thompson che lavora in ultra alto vuoto per l'imaging avanzato e la spettroscopia sviluppata da Scienta Omicron e CryoVac. Il criostato contiene uno stadio di raffreddamento Joule-Thompson montato sotto il criostato del bagno LHe con schermi raffreddati a vapore e un recipiente LN2 circostante. Esperimenti senza interruzioni per più di quattro giorni sono possibili grazie ai bassi consumi eccezionali di LHe e LN2. La testa TESLA JT SPM è dotata di diverse modalità di misurazione, tra cui STM, NC-AFM (QPlus®) e varie modalità di spettroscopia, tra cui STS, IETS e spettroscopia a forza. La punta in situ e lo scambio di campioni, compresi quattro contatti elettrici con la piastra di campionamento, consentono un'ampia gamma di modalità di misurazione aggiuntive. Un magnete superconduttore a coppie separate, sviluppato da CryoVac, fornisce campi magnetici fino a BZ > 3T, consentendo l'accesso ottico alla punta e al campione e l'evaporazione in situ a basse temperature. Il nuovo TESLA JT SPM può essere combinato con il trasferimento UHV su moduli ARPES e MBE.