Microscopio SEM CLARA

per ispezione di materialeda bancoautomatizzato

SEM analitico senza campo UHR SEM per la caratterizzazione dei materiali su scala nanometrica - Caratterizzazione senza compromessi di tutti i tipi di materiali su scala nanometrica - Ideale per la caratterizzazione di materiali a bassa energia del fascio per la massima topografia superficiale - Eccellente imaging di campioni sensibili al fascio e non conduttivi - Configurazione completamente automatizzata del fascio di elettroni - le condizioni ottimali di imaging sono garantite dal sistema In-Flight Beam Tracing™ - Intuitiva navigazione SEM dal vivo sul campione con ingrandimento fino a 2× senza la necessità di una fotocamera di navigazione ottica supplementare grazie al design Wide Field Optics™ - Esclusivo design In-Beam Multidetector che consente il rilevamento di BSE ad angolo e selettivo in termini di energia - Intuitiva piattaforma software modulare progettata per un funzionamento senza sforzo, indipendentemente dal livello di competenza degli utenti