Microscopi con rilevatore di elettroni secondari

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microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
Phenom Pharos G2

Ingrandimento: 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 2, 10, 3 nm

... Microscopio elettronico a scansione con pistola a emissione di campo da tavolo per immagini di alta qualità in tutte le discipline. Microscopio elettronico a scansione con pistola a emissione di campo Il ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzata
microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzata
Scios 2

Risoluzione spaziale: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Peso: 5 kg

... caratterizzazione 3D avanzata ad alta risoluzione e l'analisi su scala nanometrica. Imaging dell'elettrone retrodiffuso e dell'elettrone secondario L'innovativa colonna di elettroni ...

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microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
Prisma E SEM

Risoluzione spaziale: 7, 3 nm
Peso: 5 kg

... Microscopio elettronico a scansione per la ricerca e lo sviluppo industriale con capacità di microscopio elettronico a scansione ambientale. Microscopio elettronico a scansione ambientale Il ...

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microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom XL G2

Ingrandimento: 160 unit - 200.000 unit
Risoluzione spaziale: 0 µm - 10 µm

... ridotto richiede poco spazio in laboratorio, consentendo di posizionare il microscopio esattamente dove serve. SEM da tavolo Phenom XL G2 compatibile con Argon Il microscopio elettronico ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom Pro G6

Ingrandimento: 160 unit - 350.000 unit
Risoluzione spaziale: 8, 6 nm

... Desktop SEM per un'analisi SEM robusta e semplice, per ampliare le vostre capacità di ricerca. Phenom Pro Desktop SEM La sesta generazione di Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom ProX G6

Ingrandimento: 160 unit - 350.000 unit
Risoluzione spaziale: 8, 6 nm

... SEM da tavolo con funzionalità EDS per analisi elementari e SEM robuste, semplici e versatili. SEM da tavolo Phenom con diffrazione a raggi X a dispersione di energia La sesta generazione ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom Pure G6

Ingrandimento: 160 unit - 175.000 unit
Risoluzione spaziale: 0 nm - 15 nm

... vostro SEM Il Phenom Pure Desktop SEM può essere dotato di due sistemi di rivelazione opzionali. Il primo è un sistema di spettroscopia a dispersione di energia (EDS) completamente integrato. Il secondo ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio per batteria
microscopio per batteria
Phenom ParticleX

Ingrandimento: 160 unit - 200.000 unit
Risoluzione spaziale: 0 nm - 10 nm

... Microscopio elettronico a scansione da tavolo per la produzione e la ricerca sulle batterie. Analisi dei materiali per batterie avanzate Phenom Desktop SEM progettato per l'analisi dei materiali delle ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom ParticleX TC

Ingrandimento: 160 unit - 200.000 unit
Risoluzione spaziale: 0 nm - 10 nm

... ISO 16232 o ISO 4406/4407. Rilevatore di elettroni secondari Un rilevatore di elettroni secondari (SED) è disponibile come opzione ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom ParticleX AM

Ingrandimento: 160 unit - 200.000 unit
Risoluzione spaziale: 10 nm

... singole particelle e le particelle estranee Caratteristiche di Phenom ParticleX AM Desktop SEM Analisi delle particelle al SEM Il Phenom ParticleX AM Desktop SEM è dotato di una camera ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio elettronico a scansione in trasmissione
microscopio elettronico a scansione in trasmissione
SU9000II

Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... l'esclusivo design del sistema ottico offre una capacità di EELS per l'analisi avanzata dei materiali. L'SU9000 è il nuovo SEM premium di HITACHI. È dotato di un'ottica elettronica unica, con il campione posizionato ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU8700

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8 nm

... L'SU8700 inaugura una nuova era di microscopi elettronici a scansione a emissione di campo Schottky ad altissima risoluzione che va ad aggiungersi alla lunga serie di EM Hitachi. Questa rivoluzionaria piattaforma FE-SEM ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU7000

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8 nm

... consente un'efficiente acquisizione simultanea di segnali multipli di elettroni secondari e di elettroni retrodiffusi. Imaging multicanale Il numero di rivelatori montati ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU5000

Risoluzione spaziale: 1,2 nm

... facilmente inclinati e ruotati con l'immagine centrata e a fuoco. Le informazioni angolari multiple fornite da un rivelatore anulare di elettroni di retrodiffusione (BSD) di nuova concezione acquisiscono ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
SU series

Ingrandimento: 5 unit - 800.000 unit
Risoluzione spaziale: 15, 4, 3 nm

... *. area di visualizzazione ampliata - SEM MAP amplia i confini della navigazione dei campioni - Display integrato nella camera - Navigazione agevole nell'intera area osservabile - Rotazione orientata al rivelatore 2.Evoluzione ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
FlexSEM 1000 II

Ingrandimento: 6 unit - 800.000 unit
Risoluzione spaziale: 4, 5, 15 nm

... una caratteristica finora disponibile solo in un SEM di dimensioni reali. Questo SEM funziona con energia pulita per uno strumento analitico economico, senza compromettere le prestazioni. Il microscopio ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio SEM
microscopio SEM
TM4000 series

Ingrandimento: 10 unit - 25.000.054 unit
Peso: 54 kg
Lunghezza: 614, 617 mm

... caratterizzata da innovazione e tecnologie all'avanguardia che ridefiniscono le capacità di un microscopio da tavolo. Questa nuova generazione di microscopi da tavolo (TM) Hitachi di lunga data integra ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio STEM
microscopio STEM
HF5000

Ingrandimento: 20 unit - 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,08, 0,1 nm

... prestazioni dello strumento - Capacità di imaging SEM e STEM con correzione Cs simultanea e risoluzione atomica - Nuovo stadio per campioni a ingresso laterale e portacampioni ad alta stabilità - Rivelatori ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio AFM-MEB
microscopio AFM-MEB
FusionScope®

Ingrandimento: 25 unit - 200.000 unit
Peso: 330 kg
Lunghezza: 835 mm

... sub-nanometrica AFM all'imaging SEM con un semplice clic di un pulsante per estrarre i dati desiderati. I cantilever intercambiabili forniscono facilmente modalità avanzate, come l'AFM conduttivo (C-AFM) e la microscopia ...

microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SEM5000

Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 1, 1,5, 0,8 nm
Peso: 950 kg

... CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM, FEG SEM) ad alta risoluzione e ricco di funzioni. Design avanzato della colonna, tecnologia di tunneling ad alta tensione (SuperTunnel), ...

Altri prodotti
CIQTEK Co., Ltd.
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SEM4000Pro

Risoluzione spaziale: 0,9, 2,5 nm

... di 1 nm a 30 kV Design con lente magnetica a tre stadi, ampia gamma di regolazione del fascio *Rivelatori di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, osservano campioni deboli o non ...

Altri prodotti
CIQTEK Co., Ltd.
microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
SEM5000X

Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,6 nm
Peso: 400 kg

... SEM5000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FE-SEM) con una risoluzione di 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV risoluzione di 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV. Grazie al processo ...

Altri prodotti
CIQTEK Co., Ltd.
microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzata
microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzata
DB500

Risoluzione spaziale: 3, 1,2 nm

CIQTEK DB500 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con una colonna a fascio ionico focalizzato per la nanoanalisi e la preparazione dei campioni, che viene applicato con la tecnologia "SuperTunnel", ...

Altri prodotti
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microscopio QDAFM
microscopio QDAFM
Diamond III/IV

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV è un microscopio con centro NV a scansione basato sul centro di azoto vacante del diamante (centro NV) e sulla tecnologia di imaging magnetico a scansione AFM. Le proprietà magnetiche del campione ...

Altri prodotti
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microscopio FIB/SEM
microscopio FIB/SEM
AMBER X

... Una combinazione unica di Plasma FIB e UHR FE-SEM senza campo per la caratterizzazione di materiali multiscala - Elevata produttività, lavorazione FIB di grande superficie fino a 1 mm - Preparazione di microcampioni senza Ga - Imaging ...

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