Microscopi con rilevatore di elettroni secondari

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microscopio elettronico a scansione in trasmissione
microscopio elettronico a scansione in trasmissione
SU9000 II

Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... l'imaging al SEM è disponibile un sistema di rivelatori a due stadi con filtro di energia, espandibile con un rivelatore mobile di retrodiffusione. In modalità trasmissione, il segnale ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU8700

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,6 nm

... da 100V (opzione 10V) fino a 30kV di tensione di accelerazione. L'analisi EDX e l'imaging ad alta risoluzione con tutti i rivelatori sono possibili a una distanza di lavoro di 6 mm - Funzioni automatiche affidabili, come ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU7000

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8 nm

... L'SU7000 è ideale per campioni grandi o pesanti e per integrare un'ampia gamma di accessori. Questi accessori includono rivelatori analitici o supporti per la manipolazione del campione in situ (stiramento [trazione] ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom XL G2

Ingrandimento: 160 unit - 200.000 unit
Risoluzione spaziale: 0 µm - 10 µm

... ridotto richiede poco spazio in laboratorio, consentendo di posizionare il microscopio esattamente dove serve. SEM da tavolo Phenom XL G2 compatibile con Argon Il microscopio elettronico ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom Pro G6

Ingrandimento: 160 unit - 350.000 unit
Risoluzione spaziale: 8, 6 nm

... Desktop SEM per un'analisi SEM robusta e semplice, per ampliare le vostre capacità di ricerca. Phenom Pro Desktop SEM La sesta generazione di Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom ProX G6

Ingrandimento: 160 unit - 350.000 unit
Risoluzione spaziale: 8, 6 nm

... SEM da tavolo con funzionalità EDS per analisi elementari e SEM robuste, semplici e versatili. SEM da tavolo Phenom con diffrazione a raggi X a dispersione di energia La sesta generazione ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SEM5000Pro

Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8 nm - 1,3 nm
Peso: 950 kg

... : Rivelatore di elettroni ad infrarossi/rivelatore Everhart-Thornley (ETD) Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Microscopio ...

Altri prodotti
CIQTEK Co., Ltd.
microscopio con sonda di scansione
microscopio con sonda di scansione
Scanning NV Microscope (SNVM)

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV è un microscopio con centro NV a scansione basato sul centro di azoto vacante del diamante (centro NV) e sulla tecnologia di imaging magnetico a scansione AFM. Le proprietà magnetiche del campione ...

Altri prodotti
CIQTEK Co., Ltd.
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SEM4000Pro

Ingrandimento: 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9 nm - 2,5 nm

... di 1 nm a 30 kV Design con lente magnetica a tre stadi, ampia gamma di regolazione del fascio *Rivelatori di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, osservano campioni deboli o non ...

Altri prodotti
CIQTEK Co., Ltd.
microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
JSM-IT710HR

Il nuovo Microscopio Elettronico a Scansione con sorgente ad emissione di campo JEOL JSM-IT710HR, quarta generazione della serie HR, consente a chiunque di acquisire facilmente immagini ad alta risoluzione grazie alle ...

microscopio FIB/SEM
microscopio FIB/SEM
AMBER X

... Una combinazione unica di Plasma FIB e UHR FE-SEM senza campo per la caratterizzazione di materiali multiscala - Elevata produttività, lavorazione FIB di grande superficie fino a 1 mm - Preparazione di microcampioni senza Ga - Imaging ...

microscopio AFM-MEB
microscopio AFM-MEB
FusionScope®

Ingrandimento: 25 unit - 200.000 unit
Peso: 330 kg
Lunghezza: 835 mm

... sub-nanometrica AFM all'imaging SEM con un semplice clic di un pulsante per estrarre i dati desiderati. I cantilever intercambiabili forniscono facilmente modalità avanzate, come l'AFM conduttivo (C-AFM) e la microscopia ...

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