Microscopi con rilevatore di elettroni secondari

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microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom XL G3

Ingrandimento: 160 unit - 200.000 unit
Risoluzione spaziale: 0 µm - 10 µm

... Un collaudato SEM a camera grande per l'imaging e l'analisi rapida dei materiali Il SEM da tavolo Phenom XL G3 di Thermo Scientific è il punto di partenza per un controllo qualità e un'analisi dei guasti più rapidi ed ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio a raggi X
microscopio a raggi X
Phenom Pro G6

Ingrandimento: 160 unit - 350.000 unit
Risoluzione spaziale: 8, 6, 5, 20, 10 nm
Peso: 50 kg

... Pro G6 Desktop SEM con l'EDS integrato per un'analisi elementare a raggi X completa. caratteristiche SEM entry-level con sorgente CeB6 ad alta luminosità, adatto a compiti didattici e di R&S di base. Facile da usare ...

Altri prodotti
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom ProX G6

Ingrandimento: 160 unit - 350.000 unit
Risoluzione spaziale: 8, 6 nm

... del Phenom Pro G6 Desktop SEM con l'EDS integrato per un'analisi elementare completa ai raggi X. Caratteristiche Per le capacità analitiche avanzate, il SEM da tavolo Phenom ProX G6 si integra perfettamente con un rilevatore ...

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microscopio elettronico a scansione in trasmissione
microscopio elettronico a scansione in trasmissione
SU9000 II

Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... l'imaging al SEM è disponibile un sistema di rivelatori a due stadi con filtro di energia, espandibile con un rivelatore mobile di retrodiffusione. In modalità trasmissione, il segnale TE può essere rilevato ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU8700

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,6 nm

... da 100V (opzione 10V) fino a 30kV di tensione di accelerazione. L'analisi EDX e l'imaging ad alta risoluzione con tutti i rivelatori sono possibili a una distanza di lavoro di 6 mm - Funzioni automatiche affidabili, come l'adattamento ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU7000

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8 nm

... L'SU7000 è ideale per campioni grandi o pesanti e per integrare un'ampia gamma di accessori. Questi accessori includono rivelatori analitici o supporti per la manipolazione del campione in situ (stiramento [trazione] / compressione, riscaldamento/raffreddamento ...

Altri prodotti
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
JSM-IT710HR

... Il nuovo Microscopio Elettronico a Scansione con sorgente ad emissione di campo JEOL JSM-IT710HR, quarta generazione della serie HR, consente a chiunque di acquisire facilmente immagini ad alta risoluzione grazie alle molteplici funzioni ...

microscopio SEM
microscopio SEM
CEM3000A

Ingrandimento: 40 unit - 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4 nm - 8 nm
Peso: 120 kg

... Risoluzione: ≤ 4 nm (SE), ≤ 8 nm (BSE) @20 kV

  • Tensione di accelerazione: 1 kV–20 kV
  • Rivelatori: Elettrone secondario (SE) — standard; Elettrone retrodiffuso (BSE) — standard (sonda ad
  • ...

    microscopio FIB/SEM
    microscopio FIB/SEM
    AMBER X

    ... Una combinazione unica di Plasma FIB e UHR FE-SEM senza campo per la caratterizzazione di materiali multiscala - Elevata produttività, lavorazione FIB di grande superficie fino a 1 mm - Preparazione di microcampioni senza Ga - Imaging e analisi FEG-SEM ...

    microscopio AFM-MEB
    microscopio AFM-MEB
    FusionScope®

    Ingrandimento: 25 unit - 200.000 unit
    Peso: 330 kg
    Lunghezza: 835 mm

    ... sub-nanometrica AFM all'imaging SEM con un semplice clic di un pulsante per estrarre i dati desiderati. I cantilever intercambiabili forniscono facilmente modalità avanzate, come l'AFM conduttivo (C-AFM) e la microscopia ...

    microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
    microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
    SEM5000Pro

    Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
    Risoluzione spaziale: 0,8 nm - 1,3 nm
    Peso: 950 kg

    ... : Rivelatore di elettroni ad infrarossi/rivelatore Everhart-Thornley (ETD) Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Microscopio ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
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