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Microscopi EBSD
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Risoluzione spaziale: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Larghezza: 340 mm
... l'analisi elementare (EDS) e la diffrazione (EBSD). La tecnologia ChemiSEM di Thermo Scientific integra le funzionalità di spettroscopia a dispersione di energia (EDS) direttamente nell'interfaccia utente del microscopio, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Risoluzione spaziale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caratterizzazione al microscopio elettronico a scansione di nanomateriali con risoluzione sub-nanometrica e alto contrasto del materiale. Microscopio elettronico a scansione Verios 5 XHR Il SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Risoluzione spaziale: 1,3, 1, 0,8, 3 nm
... Microscopio elettronico a scansione ambientale (ESEM) per lo studio dei materiali allo stato naturale. Microscopio elettronico a scansione ambientale Quattro Il Thermo Scientific Quattro ESEM combina ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Larghezza: 340 mm
... combinazione di queste tecnologie significa che gli utenti nuovi alla microscopia elettronica possono accedere alle prestazioni di fascia alta del SEM Apreo 2. Inoltre, il SEM Apreo 2 ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Risoluzione spaziale: 515, 1.030 nm
... Scientific combinano la fresatura di fasci ionici focalizzati al plasma con l'ablazione laser a femtosecondi e l'imaging SEM (microscopia elettronica a scansione). Questa combinazione "TriBeam" consente ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Risoluzione spaziale: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Peso: 5 kg
... Microscopio elettronico a scansione a fascio di ioni focalizzato per la preparazione di campioni ad altissima risoluzione e di alta qualità e la caratterizzazione 3D. Lo Scios 2 DualBeam di Thermo Scientific è un sistema ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione di filamenti di tungsteno ad alte prestazioni. Ha eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità ad alto che a basso vuoto. Dispone inoltre di un'ampia ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8 nm - 1,3 nm
Peso: 950 kg
... °, R: 360° -Rivelatori e prolunghe SEM Standard: Rivelatore di elettroni ad infrarossi/rivelatore Everhart-Thornley (ETD) Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Microscopio ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo termico analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità. Il design della lente ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4,5, 3,9 nm
... Specifiche del microscopio CIQTEK SEM2100 SEM Ottica elettronica Risoluzione: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm a 20 kV, BSE Tensione di accelerazione: 0,5 kV ~ 30 kV Ingrandimento (Polaroid): ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg
CIQTEK SEM5000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) ad altissima risoluzione con risoluzione rivoluzionaria di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sfruttando il processo di progettazione ...
CIQTEK Co., Ltd.

Risoluzione spaziale: 3, 0,9, 1,6 nm
CIQTEK DB500 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con una colonna a fascio ionico focalizzato per la nanoanalisi e la preparazione dei campioni, che viene applicato con la tecnologia "SuperTunnel", ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... ° Rivelatori SEM e prolunghe Standard: Rivelatore di elettroni nell'obiettivo: UD-BSE/UD-SE Rivelatore Everhart-Thornley: LD Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi (BSED) Rivelatore ...
CIQTEK Co., Ltd.

... (utile per le misure EBSD) e la ricostruzione 3D in tempo reale della superficie per l'osservazione della topografia superficiale. L'utilizzo di un SEM FE non è mai stato così semplice con la serie JSM-IT810. L'osservazione ...
Jeol

Ingrandimento: 20 unit - 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 4, 1,6, 1,2 nm
... tramite FIB, è possibile effettuare osservazioni SEM ad alta risoluzione e analisi rapide utilizzando la spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) e la diffrazione a retrodiffusione di elettroni (EBSD). ...
Jeol

Ingrandimento: 10 unit - 5.480.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7 nm - 3 nm
Il microscopio elettronico a scansione JSM-IT800, equipaggiato con l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) unita ad uno spettrometro a raggi X (EDS) e alla nuova ...
Jeol
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