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Risoluzione spaziale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caratterizzazione al microscopio elettronico a scansione di nanomateriali con risoluzione sub-nanometrica e alto contrasto del materiale. Microscopio elettronico a scansione Verios 5 XHR Il SEM Verios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ingrandimento: 6 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Larghezza: 340 mm
... qualsiasi altro SEM Thermo Scientific e include tre modalità di vuoto che supportano il degassamento e i campioni non compatibili con il vuoto. Offre risultati ad alta risoluzione grazie a una pistola a emissione di campo (FEG) unica ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Larghezza: 340 mm
... combinazione di queste tecnologie significa che gli utenti nuovi alla microscopia elettronica possono accedere alle prestazioni di fascia alta del SEM Apreo 2. Inoltre, il SEM Apreo 2 è l'unico SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Risoluzione spaziale: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Larghezza: 340 mm
... imaging SEM migliorate Elevate i vostri risultati di imaging a nuovi livelli con caratteristiche innovative come la Smart Frame Integration (SFI) e le funzionalità di allineamento automatico. Analisi completa dei materiali La tecnologia ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Risoluzione spaziale: 1.030, 515 nm
... Scientific combinano la fresatura di fasci ionici focalizzati al plasma con l'ablazione laser a femtosecondi e l'imaging SEM ( microscopia elettronica a scansione). Questa combinazione "TriBeam" consente l'imaging e l'analisi ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Risoluzione spaziale: 0,7, 1,2, 1,4 nm
Peso: 5 kg
... FIB-SEM versatile per prestazioni ad alta produttività con automazione avanzata Il FIB-SEM Scios 3 di Thermo Scientific è un microscopio elettronico a scansione a fascio ionico (FIB-SEM) avanzato e ad altissima risoluzione. È in grado ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ingrandimento: 20 unit - 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 4, 1,6, 1,2 nm
... tramite FIB, è possibile effettuare osservazioni SEM ad alta risoluzione e analisi rapide utilizzando la spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) e la diffrazione a retrodiffusione di elettroni ( EBSD). Inoltre, ...
Jeol
... (utile per le misure EBSD) e la ricostruzione 3D in tempo reale della superficie per l'osservazione della topografia superficiale. L'utilizzo di un SEM FE non è mai stato così semplice con la serie JSM-IT810. L'osservazione ...
Jeol
Ingrandimento: 10 unit - 5.480.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7 nm - 3 nm
... Il microscopio elettronico a scansione JSM-IT800, equipaggiato con l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) unita ad uno spettrometro a raggi X (EDS) e alla nuova interfaccia grafica, ...
Jeol
Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione di filamenti di tungsteno ad alte prestazioni. Ha eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità ad alto che a basso vuoto. Dispone inoltre di un'ampia profondità di ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8 nm - 1,3 nm
Peso: 950 kg
... °, R: 360° -Rivelatori e prolunghe SEM Standard: Rivelatore di elettroni ad infrarossi/rivelatore Everhart-Thornley (ETD) Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Microscopio elettronico ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ingrandimento: 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9 nm - 2,5 nm
... CIQTEK SEM4000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo termico analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità. Il design della lente magnetica a tre ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4,5, 3,9 nm
... Specifiche del microscopio CIQTEK SEM2100 SEM Ottica elettronica Risoluzione: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm a 20 kV, BSE Tensione di accelerazione: 0,5 kV ~ 30 kV Ingrandimento (Polaroid): 1 x ~ 300.000 ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg
... CIQTEK SEM5000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) ad altissima risoluzione con risoluzione rivoluzionaria di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sfruttando il processo di progettazione della colonna ...
CIQTEK Co., Ltd.
Risoluzione spaziale: 3, 0,9, 1,6 nm
... CIQTEK DB500 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con una colonna a fascio ionico focalizzato per la nanoanalisi e la preparazione dei campioni, che viene applicato con la tecnologia "SuperTunnel", bassa aberrazione ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ingrandimento: 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... ° Rivelatori SEM e prolunghe Standard: Rivelatore di elettroni nell'obiettivo: UD-BSE/UD-SE Rivelatore Everhart-Thornley: LD Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi (BSED) Rivelatore per microscopia ...
CIQTEK Co., Ltd.
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