Microscopio FIB/SEM Helios 5

per controllo di qualitàper ricerca sui materiali3D

Fresatura a fascio ionico focalizzato e ablazione laser a femtosecondi I sistemi laser Helios 5 PFIB di Thermo Scientific combinano la fresatura di fasci ionici focalizzati al plasma con l'ablazione laser a femtosecondi e l'imaging SEM (microscopia elettronica a scansione). Questa combinazione "TriBeam" consente l'imaging e l'analisi ad alta risoluzione con capacità di ablazione in situ, offrendo tassi di rimozione del materiale senza precedenti per una rapida caratterizzazione su scala millimetrica con risoluzione nanometrica. Il laser a femtosecondi è in grado di tagliare molti materiali a velocità di ordine di grandezza superiore a quella di un tipico FIB. Una sezione trasversale di grandi dimensioni (centinaia di micrometri) può essere creata in meno di cinque minuti. Poiché il laser ha un diverso meccanismo di rimozione (ablazione rispetto allo sputtering ionico della FIB), può facilmente lavorare materiali difficili, come campioni non conduttivi o sensibili ai fasci di ioni. La durata estremamente breve degli impulsi laser a femtosecondi non introduce quasi nessun artefatto, come l'impatto termico, le microfratture, la fusione o quelli tipici della lucidatura meccanica tradizionale. Nella maggior parte dei casi, le superfici fresate al laser sono sufficientemente pulite per l'imaging diretto al SEM e anche per tecniche sensibili alla superficie come la mappatura a retrodiffusione elettronica (EBSD). Offriamo un ampio portafoglio di prodotti e funzionalità di automazione avanzate per applicazioni quali la preparazione di campioni per la microscopia elettronica a trasmissione (TEM), la preparazione di campioni per la tomografia a sonda atomica (APT) e l'analisi strutturale 3D.