Preparazione dei campioni per l'imaging TEM e STEM o per la tomografia a sonda atomica. Facile da usare con automazione avanzata. Capacità di caratterizzazione 3D del sottosuolo di alta qualità.
Preparazione dei campioni FIB
Il nuovo Thermo Scientific Helios 5 DualBeam si basa sulle capacità di imaging e analisi ad alte prestazioni della famiglia Helios DualBeam, leader del settore. È stato accuratamente progettato per soddisfare le esigenze dei ricercatori di scienze dei materiali e degli ingegneri per un'ampia gamma di casi d'uso della microscopia elettronica a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM), anche sui campioni più difficili.
L'Helios 5 DualBeam ridefinisce gli standard di imaging ad alta risoluzione con elevato contrasto dei materiali; preparazione rapida, facile e precisa dei campioni di alta qualità per l'imaging (S)TEM e la tomografia a sonda atomica (APT), nonché caratterizzazione di alta qualità della sottosuperficie e 3D. Sulla base delle comprovate capacità della famiglia Helios DualBeam, sono stati apportati ulteriori miglioramenti al nuovo Helios 5 DualBeam per garantire che il sistema sia ottimizzato per una varietà di flussi di lavoro manuali o automatizzati. Questi miglioramenti includono:
-Maggiore facilità d'uso: Helios 5 DualBeam è il DualBeam più accessibile per gli utenti di qualsiasi livello di esperienza. La formazione degli operatori può essere ridotta da mesi a giorni e il design del sistema aiuta tutti gli operatori a ottenere risultati coerenti e ripetibili su un'ampia gamma di applicazioni avanzate.
-Aumento della produttività: Le funzionalità avanzate di automazione, la maggiore robustezza e i miglioramenti della stabilità di Helios 5 DualBeam e del software Thermo Scientific AutoTEM 5 possono aumentare significativamente la produttività della preparazione dei campioni, consentendo il funzionamento senza sorveglianza e persino durante la notte.
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