Microscopio elettronico a scansione con sonda ionica focalizzata Scios 2

per analisida ricercadi metrologia

Microscopio elettronico a scansione a fascio di ioni focalizzato per la preparazione di campioni ad altissima risoluzione e di alta qualità e la caratterizzazione 3D. Lo Scios 2 DualBeam di Thermo Scientific è un sistema analitico ad altissima risoluzione di microscopia elettronica a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) che fornisce un'eccezionale preparazione del campione e prestazioni di caratterizzazione 3D per una vasta gamma di campioni, compresi i materiali magnetici e non conduttivi. Con caratteristiche innovative progettate per aumentare il rendimento, la precisione e la facilità d'uso, lo Scios 2 DualBeam è una soluzione ideale per soddisfare le esigenze di scienziati e ingegneri nella ricerca avanzata e nell'analisi in ambienti di ricerca accademici, governativi e industriali. Caratterizzazione del sottosuolo La caratterizzazione subsuperficiale o tridimensionale è spesso necessaria per comprendere meglio la struttura e le proprietà di un campione. Lo Scios 2 DualBeam, con il software opzionale Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4), consente l'acquisizione di alta qualità e completamente automatizzata di set di dati 3D multimodali, tra cui l'imaging con elettroni retrodiffusi (BSE) per il massimo contrasto dei materiali, la spettroscopia a dispersione di energia (EDS) per informazioni sulla composizione e la diffrazione a retrodiffusione di elettroni (EBSD) per informazioni microstrutturali e cristallografiche. In combinazione con il software Thermo Scientific Avizo, Scios 2 DualBeam offre una soluzione unica di flusso di lavoro per la caratterizzazione 3D avanzata ad alta risoluzione e l'analisi su scala nanometrica. Imaging dell'elettrone retrodiffuso e dell'elettrone secondario L'innovativa colonna di elettroni NICol è alla base delle capacità di imaging e rilevamento ad alta risoluzione del sistema.