Microscopio FIB/SEM Scios 3

per analisiper controllo di qualitàda ricerca

FIB-SEM versatile per prestazioni ad alta produttività con automazione avanzata Il FIB-SEM Scios 3 di Thermo Scientific è un microscopio elettronico a scansione a fascio ionico (FIB-SEM) avanzato e ad altissima risoluzione. È in grado di offrire un'eccezionale preparazione del campione e caratterizzazione 3D per un'ampia gamma di campioni, compresi i materiali magnetici e non conduttivi. Progettato con caratteristiche innovative per migliorare la produttività, l'affidabilità e la facilità d'uso, il FIB-SEM Scios 3 è la soluzione ideale per scienziati e ingegneri che conducono ricerche e analisi avanzate in ambienti diversi. Grazie alla suite completa di applicazioni software automatizzate, Scios 3 FIB-SEM è in grado di facilitare i casi d'uso più comuni. Questa soluzione innovativa e facile da usare aumenta notevolmente la produttività, rendendola preziosa per gli utenti dell'industria e del mondo accademico. caratteristiche Analisi automatizzata delle sezioni trasversali Il FIB-SEM Scios 3 offre un'applicazione automatizzata per l'analisi delle sezioni trasversali, consentendo una caratterizzazione del sottosuolo di alta qualità con un puntamento preciso. Questa applicazione semplifica i flussi di lavoro, riduce l'intervento dell'utente e garantisce risultati coerenti e di alta qualità in ambienti ad alta produttività. Caratterizzazione analitica 3D ad alta produttività Il software Thermo Scientific Auto Slice & View 5 per il FIB-SEM Scios 3 offre il sezionamento seriale automatizzato per l'analisi 3D ad alta produttività. La perfetta integrazione consente la raccolta di dati multimodali, tra cui immagini SEM, informazioni compositive, microstrutturali e cristallografiche. Preparazione dei campioni (S)TEM automatizzata, di alta qualità e specifica del sito Il FIB-SEM Scios 3 consente una preparazione rapida e semplice di campioni (S)TEM di alta qualità e specifici per il sito.