Microscopio FIB/SEM AMBERper analisiper ricerca sui materialiad alta precisione
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Caratteristiche
- Tipo
- FIB/SEM
- Applicazioni tecniche
- per analisi, per ricerca sui materiali
- Altre caratteristiche
- ad alta precisione, ad altissima risoluzione
Descrizione
FIB-SEM nanoanalitico versatile per espandere le vostre capacità di ricerca sui materiali
- Preparazione di micro-campioni ad alta precisione
- Imaging SEM ad altissima risoluzione senza campo e nanoanalisi
- Campo visivo esteso e facile navigazione
- Automazione di processo multi-sito
- Tomografia multimodale FIB-SEM
- Interfaccia utente del software modulare di facile utilizzo
- Interessanti pacchetti opzionali per varie applicazioni
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Cataloghi
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.