Microscopio elettronico a trasmissione Spectra 200

per controllo di qualitàper ricerca sui materialiper semiconduttore

Microscopio TEM e STEM ad alta produttività per tutte le applicazioni di scienza dei materiali. Per far progredire la comprensione di campioni complessi e sviluppare materiali innovativi, gli scienziati devono avere accesso a una strumentazione robusta e precisa in grado di correlare forma e funzione, nonché di risolvere spazio, tempo e frequenza. Thermo Fisher Scientific presenta il Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM, il microscopio elettronico a trasmissione (scansione) ad alto rendimento e con correzione dell'aberrazione per tutte le applicazioni nella scienza dei materiali. Vantaggi del microscopio elettronico a trasmissione a scansione Spectra 200 Tutti gli Spectra 200 (S)TEM sono consegnati su nuove piattaforme progettate per offrire un livello senza precedenti di stabilità meccanica e la massima qualità di imaging grazie all'isolamento passivo e attivo (opzionale) delle vibrazioni. Il sistema è alloggiato in un involucro completamente riprogettato con un display integrato sullo schermo per un comodo caricamento e rimozione dei campioni. Per la prima volta, la modularità completa e l'aggiornabilità possono essere offerte tra configurazioni non corrette e a correzione singola con altezze variabili, consentendo la massima flessibilità per le diverse configurazioni delle sale. Lo Spectra 200 (S)TEM può essere alimentato da una nuova pistola a emissione di campo freddo (X-CFEG). L'X-CFEG ha una luminosità estremamente elevata (>>1,0 x 108 A/m2/Sr/V*), una bassa diffusione di energia e può essere azionato da 30 - 200 kV. Questo fornisce immagini STEM ad alta risoluzione con alte correnti di sonda per un'analisi STEM ad alta produttività e ad acquisizione rapida. Con la potente combinazione di X-CFEG e del correttore di aberrazione della sonda S-CORR, l'imaging STEM sub-Angstrom con oltre 1000 pA di corrente della sonda può essere ottenuto di routine.