Microscopio TEM Spectra 300

per ricerca sui materialiper semiconduttoread alta risoluzione

Microscopio TEM e STEM ad alta risoluzione per tutte le applicazioni di scienza dei materiali e semiconduttori. Per far progredire la comprensione di campioni complessi e sviluppare materiali innovativi, gli scienziati devono avere accesso a una strumentazione robusta e precisa in grado di correlare forma e funzione, nonché di risolvere spazio, tempo e frequenza. Thermo Fisher Scientific presenta il Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM - il microscopio elettronico a trasmissione di scansione ad altissima risoluzione, con correzione delle aberrazioni, per tutte le applicazioni di scienza dei materiali. Vantaggi del microscopio elettronico a trasmissione Spectra 300 Tutti gli Spectra 300 (S)TEM sono forniti su nuove piattaforme progettate per offrire un livello senza precedenti di stabilità meccanica e la più alta qualità di imaging attraverso l'isolamento passivo e (opzionale) attivo delle vibrazioni. Il sistema è alloggiato in un involucro completamente riprogettato con un display integrato sullo schermo per un comodo caricamento e rimozione dei campioni. Per la prima volta, la modularità completa e l'aggiornabilità possono essere offerte tra configurazioni non corrette e a correzione singola con altezze variabili, consentendo la massima flessibilità per le diverse configurazioni delle sale. Lo Spectra 300 (S)TEM può essere equipaggiato opzionalmente con una pistola a emissione di campo estremo ad alta energia (X-FEG)/Mono o una X-FEG/UltiMono ad altissima risoluzione energetica. I monocromatori di entrambe le fonti sono automaticamente eccitati e sintonizzati con un solo clic per ottenere la massima risoluzione energetica possibile su ogni configurazione, utilizzando rispettivamente OptiMono o OptiMono+ (vedi video qui sotto).