Spettrometro EDXRF Genius IF

per l'industria metallurgicaeconomicoda banco

Spettrometro da banco EDXRF con obiettivi secondari Lo spettrometro EDXRF Genius IF (Secondary Targets) di Xenemetrix offre una soluzione economica nell'attuale mercato dell'analisi degli elementi. L'analizzatore fornisce una determinazione qualitativa e quantitativa non distruttiva dal Carbonio(6) al Fermo(100), fornendo limiti di rilevazione da subppm ad alte concentrazioni percentuali in peso. Il Genius IF ha componenti potenti tra cui: Un sistema informatico completamente integrato Un rilevatore di deriva Slicon ad alta risoluzione Un potente tubo a raggi X con dimensioni variabili dei punti, progettato per accogliere campioni di varie dimensioni Otto target secondari e otto filtri tubolari personalizzabili per una determinazione rapida e precisa di tracce ed elementi minori Genius IF può funzionare anche nella classica modalità di eccitazione diretta. Rilevatore di deriva del silicio (SDD): il Rilevatore di Deriva del Silicio permette un'alta velocità di conteggio, una migliore risoluzione, fino a 125eV e un veloce tempo di risposta, al fine di ridurre al minimo i tempi di fermo operativo. SDD LE- Ultra - La finestra del rivelatore ultra-sottile fornisce prestazioni superiori per l'analisi di elementi a bassa Z. Obiettivi secondari: Il Genius IF ha una geometria unica brevettata che combina otto target secondari, con otto filtri a tubo personalizzabili utilizzati in modalità di eccitazione diretta, per consentire l'eccitazione ottimale di tutti gli elementi che possono essere rilevati in EDXRF. La tecnica brevettata WAG (Wide Angle Geometry) offre i migliori risultati per l'analisi dei principali, dei minori e degli oligoelementi.