Spettrometro EDXRF X-Cite

per l'industria metallurgicacompattoda banco

Specifiche del sistema: Analisi non distruttiva degli elementi C(6)-Fm(100) da PPM a concentrazioni del 100%. Sei filtri personalizzabili per la determinazione rapida e precisa di tracce ed elementi minori. Risoluzione fino a 125eV. Design robusto, geometria compatta. Vassoio portacampioni con 8/16 posizioni. Facile da usare grazie al pacchetto software proprietario nEXt™. Lo spettrometro a fluorescenza X-Cite Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) di Xenemetrix offre la soluzione più conveniente in termini di prezzo/prestazioni sul mercato per l'analisi degli elementi. Lo spettrometro compatto si adatta comodamente ad un tradizionale banco da laboratorio e comprende un sistema informatico completamente integrato. Il design robusto e la struttura robusta rendono lo strumento ideale per un laboratorio mobile. Xenemetrix X-Cite utilizza un rilevatore ad alta risoluzione e un potente tubo a raggi X con dimensioni variabili dei punti per ospitare campioni di varie dimensioni. L'analizzatore fornisce una determinazione qualitativa e quantitativa non distruttiva di C(6)-Fm(100). Il risultato finale è un prodotto eccezionale, in grado di fornire potenti risultati analitici oggi e in futuro. Questo approccio è particolarmente prezioso in applicazioni dove sono disponibili quantità limitate di campioni o dove l'integrità del campione deve essere preservata per altri scopi. L'unità innovativa supera i sistemi tradizionali senza i costi e le difficoltà associate al raffreddamento con azoto liquido. Le capacità di calcolo complete sono integrate nel progetto del sistema per l'analisi e il trasferimento completo dei dati.