Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo ZEISS Sigma​

per analisiper ispezioneper materiali

La famiglia ZEISS Sigma combina la tecnologia dei microscopi elettronici a scansione a emissione di campo (FE-SEM) con un'eccellente esperienza d'uso. Strutturate le vostre routine di imaging e analisi e aumentate la produttività. Studiate nuovi materiali, particelle per l'ispezione della qualità o campioni biologici o geologici. Non scendete a compromessi nell'imaging ad alta risoluzione: passate alle basse tensioni e beneficiate di una risoluzione e di un contrasto migliori a 1 kV o meno. Eseguite la microscopia analitica avanzata utilizzando la migliore geometria EDS della categoria e ottenete dati analitici al doppio della velocità e con maggiore precisione Con la famiglia Sigma si entra nel mondo della nano-analisi di alto livello. Sigma 360 è la scelta dei centri di imaging: un FE-SEM intuitivo per l'imaging e l'analisi. Sigma 560 utilizza la migliore geometria EDS della categoria per fornire analisi ad alta produttività e consentire esperimenti in situ automatizzati. La scelta della struttura principale. Acquisizione intuitiva. Guidati con competenza dall'impostazione ai risultati basati sull'intelligenza artificiale. Scoprite un flusso di lavoro di imaging intuitivo. La differenza si vede a 1 kV e meno. Ottenete una risoluzione migliore e un contrasto ottimizzato. Eseguite l'imaging VP agli estremi per ottenere risultati eccellenti sui non conduttori. Analisi ad alto rendimento. Esperimenti in situ automatizzati. Analisi efficiente di campioni reali: Analisi basate sul SEM con velocità e versatilità. Automatizzate i vostri esperimenti in situ: Un laboratorio completamente integrato per test non presidiati. Immagine di campioni difficili al di sotto di 1 kV: raccolta di informazioni complete sul campione.