Profilometro ottico Nexview™ NX2
3Dinterferometricocon interferometria a luce bianca

Profilometro ottico - Nexview™ NX2 - Zygo - 3D / interferometrico / con interferometria a luce bianca
Profilometro ottico - Nexview™ NX2 - Zygo - 3D / interferometrico / con interferometria a luce bianca
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Caratteristiche

Tecnologia
ottico, 3D, interferometrico, con interferometria a luce bianca
Funzione
per la misurazione della rugosità, per misurazione della planarità, per l'analisi di strati sottili
Applicazioni
per linea di produzione, per microlenti
Specificazioni
industriale, da laboratorio
Configurazione
da banco
Altre caratteristiche
senza contatto, non distruttivo

Descrizione

Progettato per le applicazioni più esigenti, il profilatore ottico 3D Nexview™ NX2 combina precisione eccezionale, algoritmi avanzati, flessibilità applicativa e automazione in un unico pacchetto che rappresenta il profilatore a scansione interferometrica a coerenza (CSI) più avanzato di ZYGO. La tecnologia completamente priva di contatto ottimizza il ritorno sull'investimento offrendo una precisione sub-nanometrica a tutti gli ingrandimenti e misurando una gamma più ampia di superfici in modo più rapido e preciso rispetto ad altre tecnologie comparabili disponibili in commercio. Con applicazioni che spaziano dalla planarità, rugosità e ondulazione, ai film sottili, all'altezza dei gradini e altro ancora, praticamente su qualsiasi superficie e materiale, Nexview NX2 è davvero il profilatore senza compromessi. Nexview™ NX2, l'ammiraglia di ultima generazione, offre un'ampia gamma di funzioni differenziate, mirate a rendere la metrologia degli utenti migliore, più veloce e più affidabile: - Il sensore da 1,9 MP ad ampia superficie e alta sensibilità consente di vedere di più in una singola misura - Le misurazioni ad alta velocità richiedono solo pochi secondi per migliorare la produttività e il controllo dei processi - La messa a fuoco e l'impostazione automatica del pezzo riducono al minimo la variabilità e la formazione dell'operatore, riducendo al contempo il tempo necessario per ottenere i dati - Prestazioni di misura in grado di garantire un'eccezionale precisione e ripetibilità per le applicazioni di produzione più impegnative. - La metrologia resistente alle vibrazioni con la tecnologia SureScan e l'isolamento integrato consentono una metrologia di alta qualità anche in ambienti soggetti a vibrazioni

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Cataloghi

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

SPIE Photonics West 2025
SPIE Photonics West 2025

25-30 gen 2025 San Francisco (USA - California)

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    MECSPE
    MECSPE

    5-07 mar 2025 BOLOGNA (Italia)

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.