Profilometro ottico Nexview™ LS650

3Dinterferometricoda laboratorio

Il sistema metrologico Nexview™ 650 è uno strumento di ispezione per la misurazione automatizzata di stampi per lo stampaggio a iniezione, PCB, pannelli di vetro e altri campioni che richiedono un volume di lavoro esteso fino a 650 x 650 mm. Fornisce misure 2D e 3D di una varietà di caratteristiche superficiali con precisione verticale sub-nanometrica e laterale sub-micronica. Prestazioni potenti L'interferometria a scansione a coerenza (CSI) è la tecnologia di misurazione alla base del sistema Nexview™ 650. Questa tecnica senza contatto offre vantaggi di alta precisione e di alto valore nella metrologia delle superfici, tra cui: - Misura praticamente tutti i tipi di superfici, da quelle ruvide a quelle super lisce, compresi i film sottili, le forti pendenze e i grandi gradini. - La precisione di misura sub-nanometrica è indipendente dall'ingrandimento del campo - Prestazioni di misura in grado di garantire una precisione e una ripetibilità eccezionali per le applicazioni di produzione più esigenti. - Tecnologia SureScan™ per la tolleranza alle vibrazioni: funzionamento robusto in qualsiasi ambiente. - Il software Mx™ consente lo scambio di dati senza soluzione di continuità con altri profilometri ZYGO, tra cui ZeGage™ Pro, NewView™ 9000 e Nexview™ NX2.