Apparecchi per prove Cosmic

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impianto per prove automatico
impianto per prove automatico
VIP Ultra

... Panoramica
Il VIP Ultra di Cosmic è un ATE (Automatic Test Equipment) di nuova generazione per il collaudo ad alto throughput dei semiconduttori di potenza (Si, SiC, GaN). Progettato per l'integrazione in cleanroom, è scalabile in parallelo ...

Altri prodotti
Cosmic Equipment S.p.A.
impianto per prove automatico
impianto per prove automatico
DMT EVO

... Presentazione
DMT EVO è un ATE compatto per segnali misti e digitali, progettato per la caratterizzazione e la validazione di IC in R&D, laboratorio, pre‑produzione e post‑produzione. Il mainframe modulare supporta fino a 5 slot per combinare ...

Altri prodotti
Cosmic Equipment S.p.A.
impianto per prove automatico
impianto per prove automatico
Quasar200

... Quasar200 è indirizzato a Si, GaN e SiC a bassa potenza; Pulsar600 è progettato per applicazioni ad altissima corrente, incluse prove per SiC, inverter e automotive.

Punti di forza

  • Soluzione turnkey — Misure
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impianto per prove di burn-in
impianto per prove di burn-in

... Messaggio chiave
Controllo autonomo del riscaldatore per DUT per minimizzare il consumo energetico

Presentazione
La soluzione Ovenless Burn‑In & HTOL di Cosmic è un'alternativa rack‑based ed efficiente rispetto ai forni tradizionali ...

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Cosmic Equipment S.p.A.
impianto per prove automatico
impianto per prove automatico
HATINA GP

... Presentazione del prodotto
HATINA GP è una piattaforma ATE (sistema di test automatizzato) progettata per la caratterizzazione e i test di produzione ad alto parallelismo di Smart Power IC e SoC. Il sistema dispone di un mainframe modulare configurabile ...

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Cosmic Equipment S.p.A.
impianto per prove automatico
impianto per prove automatico
Hatina 4S

... Presentazione
Hatina 4S di Cosmic è una piattaforma ATE compatta e modulare progettata per wafer-sort (WS) e test finali di dispositivi MEMS e sensori magnetici. L'architettura supporta moduli di stimolo per sensori di umidità, pressione, temperatura, ...

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impianto per prove automatico
impianto per prove automatico
FTI-1000 Wafer HV

... probe‑card, sviluppo programmi di test, acquisizione forme d’onda, generazione automatica di data‑sheet, schmoo plotting, analisi PAT secondo AEC‑Q001 Rev. C

  • Tensione sorgente DC — Wafer HV: 6 kV; Wafer MV: 1,2 kV
  • Range
  • ...

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