Spettrometri per l'industria dei semiconduttori Liebherr

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spettrometro EDXRF
spettrometro EDXRF
EDX-7200

Lunghezza: 30 cm
Larghezza: 27,5 cm
Altezza: 10 cm

... qualitativa si basa sull'analisi delle lunghezze d'onda/energie specifiche di ciascun elemento; l'analisi quantitativa misura l'intensità dei raggi X proporzionale alla concentrazione degli elementi.

Caratteristiche ...

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spettrometro EDXRF
spettrometro EDXRF
EDX-8100

Lunghezza: 46 cm
Larghezza: 59 cm
Altezza: 36 cm

... Panoramica
EDX-8100 è uno spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (EDXRF) progettato per analisi elementari di routine e avanzate su solidi, polveri, liquidi e film sottili. Unisce una camera campioni ...

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spettrometro fotoelettronico a raggi X
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AXIS Supra+

... Panoramica
L'AXIS Supra+ è uno spettrometro di fotoelettroni indotti da raggi X (XPS) con capacità di imaging, che fornisce informazioni quantitative sugli elementi e sullo stato chimico nei ...

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