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... compongono il sistema CIRCL5 di ultima generazione comprendono: ispezione dei difetti del lato anteriore del wafer; ispezione dei difetti del bordo del wafer, profilo, metrologia e revisione; ispezione ...
Innovativa macchina di ispezione automatica monotavola, capostipite della nuova generazione dei sistemi di visione artificiale di Doss Visual Solution, adatta per il controllo di uno svariato range di ...
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Onto Innovation Inc.
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Onto Innovation Inc.
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