Socket di test manuali

... Package-on-Package (PoP). Complesso nella sua progettazione, il test PoP richiede l'innesto simultaneo della parte superiore e inferiore del circuito integrato. La soluzione Euclid per il test manuale ...

... del segnale -Design del socket Tri-Temp per supportare da -55 °C a +150 °C -Flessibilità di progettazione configurabile per l'integrazione in configurazioni hardware esistenti -Progettato per test manuali, ...

... Zoccoli di prova per transistor di potenza, passo personalizzato Passo Alta temperatura Basso degassamento Zoccolo resistente al calore ad alta temperatura per passo personalizzato. Se volete valutare un dispositivo non supportato dalle ...

... Zoccolo per test e burn-in per oscillatori al quarzo, MEMS, ecc. Tipo a conchiglia, a immersione a saldare Dimensioni del telaio 10x16 mm / 0,39x0,63" Progettato per l'impostazione manuale del dispositivo. Adatto ...

... Zoccolo per test e burn-in per oscillatori al quarzo, MEMS, ecc. Tipo a conchiglia, ad alta frequenza Dimensioni del telaio 10x16 mm / 0,39x0,63" Progettato per l'impostazione manuale del dispositivo. Adatto ...

... Alta corrente Interfaccia ad alta velocità Manuale/manipolatore/incendio/produzione di massa presa di prova per sensori CCD e CMOS. personalizzabile per vari tipi di package come BGA, LGA, PGA. utilizzando le nostre ...

... Compatibile con la serie SONY IMX - Per scheda di valutazione CCD e CMOS - Per LGA, BGA, QFN -" Passo Una soluzione per il test dei dispositivi LGA, la verifica dei circuiti e lo sviluppo. Nell'ispezione di CCD e CMOS, ...

... CCD e CMOS - Per scheda di valutazione CCD e CMOS - Per PGA - passo di 2,54 mm/0,100", 1,27 mm/0,050" Una soluzione per il test dei dispositivi PGA, la verifica dei circuiti e lo sviluppo. Nell'ispezione di CCD e CMOS, ...

... scheda madre e le necessità di sostituzione a causa di aggiornamenti. Compatibile con vari formati, ad esempio per l'uso manuale, e per uso burn-in. ...