Sistema di cartografia per ispezione E142

di wafer

Una chiave per la tracciabilità del singolo dispositivo - Preparatevi al prossimo livello di produzione senza inchiostro. I circuiti integrati stanno diventando sempre più complessi, densi, piccoli e di qualità critica, con una piccola mancanza. Basta guardarli per capire se sono utilizzabili o meno. È qui che entra in gioco il Substrate Mapping E142. E142 applica una rappresentazione del mondo fisico simile a una mappa virtuale a molti substrati comuni, come ad esempio wafer, strisce e vassoi. Besi Svizzera ha implementato lo Strip Mapping basato su E142 su Esec Die Bonder 2100. Identificazione delle strisce -Capacità di leggere DataMatrix 2D fino a 100 µm di punti -Capacità di leggere codici a barre CODE39 fino a barre di 200 µm -Posizione preferita dello StripID: Vicino al bordo anteriore o posteriore -Struttura di mappatura delle strisce conforme a SEMI E142 -Comunicazione conforme a E142.2 SECS II -Download e upload della mappa delle strisce configurabile -Generazione di BinCodeMap configurabile -Generazione di TransferMap configurabile Mappatura dei wafer tramite Stream12 ancora disponibile