Sistema di cartografia di wafer E142

Una chiave per la tracciabilità del singolo dispositivo - Preparatevi al prossimo livello di produzione senza inchiostro. Gli IC stanno diventando sempre più complessi, più densi, più piccoli e di qualità critica con una piccola mancanza. Semplicemente guardandoli non si può riconoscere se sono utilizzabili o meno. È qui che entra in gioco la Substrate Mapping E142. E142 applica una mappa virtuale come rappresentazione del mondo fisico a molti substrati comuni come per esempio wafer, strisce e vassoi. Besi Svizzera ha implementato lo Strip Mapping basato su E142 sull'Esec Die Bonder 2100. Identificazione della striscia In grado di leggere DataMatrix 2D fino a 100 µm di punti In grado di leggere codici a barre CODE39 fino a 200 µm di barre Posizione preferita di StripID: Vicino al bordo anteriore o posteriore Struttura di mappatura delle strisce conforme a SEMI E142 Comunicazione conforme a E142.2 SECS II Scaricamento e caricamento della mappa di striscia configurabile Generazione BinCodeMap configurabile Generazione TransferMap configurabile Mappatura wafer tramite Stream12 ancora disponibile