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- HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Spettrometro a fluorescenza XDAL® seriesEDXRFdi processo
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Caratteristiche
- Tipo
- a fluorescenza, EDXRF
- Settore
- di processo
Descrizione
Dispositivo di misura a florescenza di raggi X con banco X/Y e asse Z programmabile per la misura automatizzata dello spessore di rivestimento e l'analisi dei materiali
Cataloghi
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.