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- HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Spettrometro a fluorescenza X-RAY XDV-SDDa fluorescenza a raggi Xdi processoper rivestimento
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Caratteristiche
- Tipo
- a fluorescenza, a fluorescenza a raggi X
- Settore
- di processo, per rivestimento, per dispositivi elettronici
Descrizione
Strumento di misura a fluorescenza da raggi X per le esigenze più complesse, con banco X/Y e asse Z programmabili per la misura automatica di rivestimenti molto sottili e per l'analisi di tracce
Cataloghi
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Coating Thickness
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