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Spettrometro a fluorescenza X-RAY XDV®-µa fluorescenza a raggi Xda laboratoriodi misura
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Caratteristiche
- Tipo
- a fluorescenza, a fluorescenza a raggi X
- Settore
- da laboratorio, di misura, per rivestimento
- Configurazione
- compatto
Descrizione
Strumento di misura a fluorescenza da raggi X con ottica policapillare per la misura e le analisi automatiche dello spessore e della composizione dei rivestimenti su componenti e strutture di dimensioni ridotte.
Cataloghi
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Coating Thickness
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.