- Metrologia - Laboratorio
- Analisi fisico-chimiche
- Spettrometro EDXRF
- HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Spettrometro a fluorescenza XDL® seriesEDXRFda laboratorioautomatizzato
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
Vuoi acquistare direttamente?
Vai sul nostro Shop.
Caratteristiche
- Tipo
- a fluorescenza, EDXRF
- Settore
- da laboratorio
- Altre caratteristiche
- automatizzato
Descrizione
Strumento di misura a fluorescenza da raggi X per la misura manuale o automatica dello spessore di rivestimenti funzionali, anticorrosione e parti prodotte in serie.
Cataloghi
FISCHER Product Overview
24 Pagine
XAN Series
36 Pagine
Altri prodotti HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Coating Thickness
Ricerche correlate
- Spettrometro
- Spettrometro per laboratorio
- Spettrometro di processo
- Spettrometro compatto
- Spettrometro da banco
- Spettrometro di misura
- Spettrometro a raggi X
- Conduttimetro
- Spettrometro portatile
- Spettrometro a fluorescenza
- Spettrometro automatizzato
- Spettrometro EDXRF
- Conduttimetro portatile
- Spettrometro per R&S
- Spettrometro a raggi X
- Spettrometro portatile
- Sonda a corrente di Foucault
- Spettrometro di produzione
- Spettrometro per dispositivi elettronici
- Sonda di spessore
* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.