Spettrometro di massa di ioni secondari Compact SIMS

per l'analisidi misurarapido

Compact SIMS: una svolta nel design per l'analisi delle superfici Lo strumento SIMS compatto di Hiden è stato progettato per una caratterizzazione rapida e semplice delle strutture degli strati, della contaminazione superficiale e delle impurità, con un rilevamento sensibile degli ioni positivi assistito dal fascio di ioni primari di ossigeno e fornisce una sensibilità isotopica su tutta la tavola periodica. La geometria del cannone ionico è ideale per la risoluzione di profondità nanometrica e per l'analisi in prossimità della superficie. Contaminazione con silicone Film sottili Rivestimento ottico Materiali elettronici Celle solari flessibili Lo strumento SIMS compatto di Hiden è progettato per una caratterizzazione rapida e semplice delle strutture degli strati, della contaminazione superficiale e delle impurità, con un rilevamento sensibile degli ioni positivi assistito dal fascio di ioni primari di ossigeno e fornisce una sensibilità isotopica su tutta la tavola periodica. La geometria del cannone ionico è ottimizzata per una risoluzione di profondità nanometrica e per l'analisi in prossimità della superficie. Un carosello rotante consente di caricare simultaneamente 10 campioni per la misurazione nella camera a vuoto alimentata a secco. Lo strumento ha un ingombro ridotto ed è eccezionalmente facile da usare, vanta lo stesso software di controllo e lo stesso sistema di pistole ioniche della famiglia di workstation SIMS di Hiden, fornendo profili di profondità, immagini 3D e 2D e dati spettrali di massa. Il rivelatore MAXIM-600P si basa sull'affidabilissimo filtro di massa Hiden a triplo quadrupolo da 6 mm con rilevamento degli ioni a impulsi. Per l'analisi di campioni isolanti è disponibile un cannone elettronico opzionale. Oltre al SIMS, il Compact SIMS dispone di una funzione SNMS, utile per la quantificazione di elementi ad alta concentrazione, come le leghe.