Spettrometro quadripolare EQS

di massa di ioni secondariper l'analisiad alta sensibilità

Un sistema per l'analisi di ioni secondari positivi e negativi da campioni solidi Hiden Analytical fornisce soluzioni di spettrometria di massa di livello mondiale e strumenti innovativi per le analisi ioniche, tra cui il collaudato Hiden EQS. Questo spettrometro di massa per ioni secondari (SIMS) a quadrupolo elettrostatico ad alta trasmissione è uno dei nostri sistemi di rivelazione più popolari per l'analisi di superfici su scala nanometrica di film sottili su scala di ricerca. L'analizzatore SIMS EQS è un analizzatore aggiuntivo ideale per i sistemi di microscopia XPS e FIB a fascio ionico focalizzato. FIB-SIMS per l'analisi dei materiali su scala nanometrica Ricerca sulle batterie Materiali nucleari Scienza delle superfici UHV L'EQS di Hiden è un rivelatore SIMS a quadrupolo elettrostatico unico nel suo genere, specializzato per l'analisi spettrale di massa di ioni secondari positivi (+ve) e negativi (-ve) da campioni solidi. Grazie all'analizzatore di energia ionica a settore elettrostatico integrato a 45°, l'Hiden EQS può analizzare simultaneamente l'energia ionica con una risoluzione di 0,2 elettronvolt (eV). Ciò lo rende uno degli strumenti più versatili per l'analisi degli ioni in numerose applicazioni di spettrometria di massa, tra cui: Estensione dell'intervallo di sensibilità di XPS di un fattore superiore a 1000 SIMS dinamico e statico Spettrometria di massa a fascio ionico focalizzato (FIB) Spettrometria di massa neutra secondaria (SNMS) Profilazione della profondità di sputtering Analisi della massa/energia di ioni e neutri sputati Un accessorio molto diffuso per i sistemi after-market, ideale ad esempio per i sistemi XPS e per i sistemi di microscopia FIB a fascio ionico focalizzato, l'EQS di Hiden offre un'elevata sensibilità e un pompaggio differenziale opzionale per soddisfare le esigenze di imaging, profilazione di profondità e spettri di massa degli utenti in una vasta gamma di applicazioni.