Spettrometro di massa di ioni secondari AutoSIMS

per l'analisiautomaticocompatto

Sistema automatico di analisi delle superfici Hiden Analytical ha sviluppato un sistema automatico di analisi delle superfici completamente autonomo, l'AutoSIMS, un innovativo spettrometro di massa a ioni secondari (SIMS) in grado di eseguire analisi di routine e ripetitive con funzionamento non presidiato. Con uno stadio X-Y completamente automatizzato e un supporto espanso, l'AutoSIMS di Hiden può eseguire centinaia di processi al giorno durante un funzionamento ininterrotto 24 ore su 24, 7 giorni su 7. Contaminazione con il silicone Cella solare flessibile Stent chirurgico Materiali elettronici Hiden Analytical è specializzata in strumenti SIMS per la profilazione in profondità su scala nanometrica e l'analisi quantitativa delle superfici di una miriade di tipi di campioni diversi, dalle stazioni di lavoro complete alle soluzioni SIMS compatte. L'AutoSIMS comprende lo stesso cannone ionico primario a lunga durata con sorgente di ossigeno e l'analizzatore MAXIM presenti in tutta la linea di prodotti SIMS di Hiden, con l'aggiunta di un portacampioni a cassetta modulare e di uno stadio di campionamento X-Y guidato da software. Questo fornisce la base per il rilevamento ad alta affidabilità di spettri di superficie e profili di profondità tridimensionali (3D) senza intervento umano. La lunga durata della pistola ionica garantisce la generazione di un fascio costante ad alta stabilità per lunghi periodi di funzionamento, consentendo al portacassette e allo stadio di campionamento di fornire dosi continue di campione per l'analisi in batch ad alta produttività. Anche gli operatori meno esperti possono programmare il sistema automatico di analisi delle superfici modificando la matrice dei parametri sperimentali attraverso un semplice foglio di calcolo.