Sistema di preparazione di campione automatico EM TXP
per SEM

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Caratteristiche

Modo di utilizzo
automatico
Applicazioni
per SEM

Descrizione

Il dispositivo di preparazione del target Leica EM TXP serve per la fresatura, il taglio, la polverizzazione e la lucidatura dei campioni prima dell'esame mediante microscopio elettronico a trasmissione (TEM) e microscopio elettronico a scansione (SEM), nonché mediante le tecniche di microscopia ottica (LM). Uno stereomicroscopio integrato consente la localizzazione e la preparazione con facilità di target appena visibili; con il braccio rotante, il campione può essere osservato direttamente a un angolo compreso tra 0° e 60°, o 90° relativamente alla faccia anteriore, per determinare la distanza con un reticolo oculare.

Cataloghi

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

Global Industrie 2024
Global Industrie 2024

25-28 mar 2024 París Villepinte (Francia) Stand 5S116

  • Maggiori informazioni
    BIEMH 2024
    BIEMH 2024

    3-07 giu 2024 Bilbao (Spagna) Hall 3 - Stand D-43

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.