Sistema di preparazione di campione automatico EM TXP

per SEM

Il dispositivo di preparazione del target Leica EM TXP serve per la fresatura, il taglio, la polverizzazione e la lucidatura dei campioni prima dell'esame mediante microscopio elettronico a trasmissione (TEM) e microscopio elettronico a scansione (SEM), nonché mediante le tecniche di microscopia ottica (LM). Uno stereomicroscopio integrato consente la localizzazione e la preparazione con facilità di target appena visibili; con il braccio rotante, il campione può essere osservato direttamente a un angolo compreso tra 0° e 60°, o 90° relativamente alla faccia anteriore, per determinare la distanza con un reticolo oculare.