Sistema di preparazione di campione di polimero EM TIC 3X

per SEM

Ottenere sezioni trasversali di elevata qualità di quasi ogni materiale, rivelare le strutture interne del campione praticamente senza deformazioni o danni non è mai stato così comodo grazie al dispositivo Leica EM TIC 3X. La fresa a triplo fascio ionico, Leica EM TIC 3X consente la produzione di sezioni trasversali di materiali duri/morbidi, porosi, sensibili al calore, fragili ed eterogenei per la microscopia elettronica a scansione (SEM), l'analisi microstrutturale (EDS, WDS, Auger, EBSD) e l'esame AFM. Tre fasci ionici (controllati singolarmente), il tavolino di raffreddamento e il tavolino per campioni multipli garantiscono la fresatura alle più elevate velocità, un taglio ampio e profondo nel campione, con conseguenti sezioni trasversali di elevata qualità.