Sistema di preparazione di campione EM RES102

Sistema di preparazione di campione - EM RES102 - Leica Microsystems GmbH
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Descrizione

Sottile, pulito, lucidare, lucidare, tagliare le pendenze e strutturare i vostri campioni con il massimo livello di flessibilità nel Leica EM RES102. L'esclusivo sistema di fresatura a fascio ionico combina la preparazione dei campioni TEM, SEM e LM in un'unica unità da banco. Una varietà di portacampioni permette di realizzare una vasta gamma di applicazioni. Oltre alla fresatura ad alta energia del fascio ionico, il Leica EM RES102 può essere utilizzato anche per l'elaborazione di campioni molto delicati con bassa energia ionica. Caratteristiche principali Efficace ed efficiente in termini di costi - Un unico sistema per applicazioni TEM, SEM e LM - Preparazione al SEM di campioni fino a 25 mm di diametro - Miglioramento dell'efficacia nella preparazione del campione TEM con la produzione di grandi aree trasparenti di elettroni per l'analisi TEM - Capacità LAN per il controllo e il monitoraggio a distanza Sicuro Sorgente ionica motorizzata completamente controllata da programma e movimenti del campione per risultati riproducibili Esemplari nativi Raffreddamento dello stadio del campione LN2 per mantenere l'integrità dei campioni sensibili alla temperatura Facilità d'uso - Libreria di applicazioni integrate - File di aiuto integrati e video tutorial per i principianti e la manutenzione

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Cataloghi

Leica EM TXP
Leica EM TXP
10 Pagine
* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.