Sistemi di preparazione di campioni per SEM

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sistema di preparazione di campione automatico
sistema di preparazione di campione automatico

... microcampione con un fascio di ioni nella camera a vuoto di un sistema FIB. Unità di microcampionamento FIB e metodo di microcampionamento FIB Un esempio di campionamento di micropilastri FIB Un campione ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
sistema di preparazione di campione automatico
sistema di preparazione di campione automatico
MC1000

... laboratorio per gli anni a venire. L'MC1000 Ion Sputter Coater è uno strumento di preparazione del campione da utilizzare con un microscopio elettronico a scansione (SEM). ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
sistema di preparazione di campione automatico
sistema di preparazione di campione automatico
ZONESEMⅡ

... superficie del campione e il fascio di elettroni irradiato generano la contaminazione del campione. Gli idrocarburi sono generalmente attaccati in modo non covalente alla superficie del campione ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
sistema di preparazione di campione automatico
sistema di preparazione di campione automatico
IM4000II

... fresatura piana per preparare i campioni a seconda dello scopo. Il controllo della temperatura di raffreddamento, l'unità di supporto per la protezione dell'aria e le varie opzioni consentono la preparazione ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
sistema di preparazione di campione automatico
sistema di preparazione di campione automatico
ArBlade 5000

... Il sistema a fascio ionico largo più avanzato per la produzione di campioni di sezione trasversale o di fresatura piana di eccezionale qualità per la microscopia elettronica. ArBlade 5000 è dotato di ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
sistema di preparazione di campione automatico
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ZoneTEM II

... dei campioni prima dell'analisi, garantendo i migliori dati possibili dai vostri campioni TEM. Le superfici dei campioni sono inevitabilmente contaminate da idrocarburi a causa della ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
sistema di preparazione di campione per SEM
sistema di preparazione di campione per SEM
EM ACE900

... formazione di artefatti. Preparate i campioni per una valutazione dettagliata dell'immagine in condizioni ottimali: - Schermatura fredda attorno al campione per impedire alle molecole di acqua di congelarsi ...

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Leica Microsystems GmbH
sistema di preparazione di campione per SEM
sistema di preparazione di campione per SEM
EM VCT500

Con Leica EM VCT500 è possibile trasferire i campioni in condizioni criogeniche oa temperatura ambiente, così come sotto vuoto o in atmosfera protetta.

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Leica Microsystems GmbH
sistema di preparazione di campione automatico
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EM TXP

... dispositivo di preparazione del target Leica EM TXP serve per la fresatura, il taglio, la polverizzazione e la lucidatura dei campioni prima dell'esame mediante microscopio elettronico a trasmissione ...

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Leica Microsystems GmbH
sistema di preparazione di campione per SEM
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EM TIC 3X

... microscopia elettronica a scansione (SEM), l'analisi microstrutturale (EDS, WDS, Auger, EBSD) e l'esame AFM. Tre fasci ionici (controllati singolarmente), il tavolino di raffreddamento e il tavolino per campioni ...

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Leica Microsystems GmbH
sistema di preparazione di campione per SEM
sistema di preparazione di campione per SEM
EM TRIM2

L'unità Leica EM TRIM2 è un sistema di fresatura ad elevata velocità dotato di stereomicroscopio integrato e illuminatore ad anello a LED per il taglio di campioni biologici e industriali prima dell'ultramicrotomia. Il ...

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sistema di preparazione di campione automatico
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ARTOS 3D

... seriali per tomografia, pronte per essere acquisite al microscopio elettronico a scansione (SEM). Risparmiate tempo e lavoro nella preparazione dei campioni biologici ...

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sistema di preparazione di campione per SEM
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EM FC7

... montando la criocamera Leica EM FC7 Leica; in questo modo sarà possibile preparare criosezioni (da -15° a -185 °C) per TEM, SEM, AFM e LM.

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sistema di preparazione di campione automatico
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EM ACE200

... conduttivi per le analisi SEM e TEM non è mai stato così conveniente come con il sistema di rivestimento Leica EM ACE200. Configurato come dispositivo di rivestimento per polverizzazione o evaporazione ...

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EM ACE600

Il sistema da scegliere per ottenere la massima risoluzione nelle analisi TEM e FE-SEM. L'unità Leica EM ACE600 è il sistema per la deposizione di film a vuoto spinto perfetto e versatile ...

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EM-09100IS Ion Slicer™

... Metodo innovativo di preparazione dei campioni per TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER Lo Ion Slicer è in grado di preparare campioni a film sottile senza solventi o sostanze ...

sistema di preparazione di campione automatico
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Centri®

... La piattaforma Centri® di Markes International è il primo sistema che offre un campionamento non presidiato ad alta sensibilità e la preconcentrazione di VOC e SVOC in campioni liquidi, solidi e gassosi. ...

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