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Sistemi di preparazione di campioni per SEM
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... microcampione con un fascio di ioni nella camera a vuoto di un sistema FIB. Unità di microcampionamento FIB e metodo di microcampionamento FIB Un esempio di campionamento di micropilastri FIB Un campione ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... laboratorio per gli anni a venire. L'MC1000 Ion Sputter Coater è uno strumento di preparazione del campione da utilizzare con un microscopio elettronico a scansione (SEM). ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... superficie del campione e il fascio di elettroni irradiato generano la contaminazione del campione. Gli idrocarburi sono generalmente attaccati in modo non covalente alla superficie del campione ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... fresatura piana per preparare i campioni a seconda dello scopo. Il controllo della temperatura di raffreddamento, l'unità di supporto per la protezione dell'aria e le varie opzioni consentono la preparazione ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Il sistema a fascio ionico largo più avanzato per la produzione di campioni di sezione trasversale o di fresatura piana di eccezionale qualità per la microscopia elettronica. ArBlade 5000 è dotato di ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... dei campioni prima dell'analisi, garantendo i migliori dati possibili dai vostri campioni TEM. Le superfici dei campioni sono inevitabilmente contaminate da idrocarburi a causa della ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... formazione di artefatti. Preparate i campioni per una valutazione dettagliata dell'immagine in condizioni ottimali: - Schermatura fredda attorno al campione per impedire alle molecole di acqua di congelarsi ...
Leica Microsystems GmbH
Con Leica EM VCT500 è possibile trasferire i campioni in condizioni criogeniche oa temperatura ambiente, così come sotto vuoto o in atmosfera protetta.
Leica Microsystems GmbH
... dispositivo di preparazione del target Leica EM TXP serve per la fresatura, il taglio, la polverizzazione e la lucidatura dei campioni prima dell'esame mediante microscopio elettronico a trasmissione ...
Leica Microsystems GmbH
... microscopia elettronica a scansione (SEM), l'analisi microstrutturale (EDS, WDS, Auger, EBSD) e l'esame AFM. Tre fasci ionici (controllati singolarmente), il tavolino di raffreddamento e il tavolino per campioni ...
Leica Microsystems GmbH
L'unità Leica EM TRIM2 è un sistema di fresatura ad elevata velocità dotato di stereomicroscopio integrato e illuminatore ad anello a LED per il taglio di campioni biologici e industriali prima dell'ultramicrotomia. Il ...
Leica Microsystems GmbH
... seriali per tomografia, pronte per essere acquisite al microscopio elettronico a scansione (SEM). Risparmiate tempo e lavoro nella preparazione dei campioni biologici ...
Leica Microsystems GmbH
... montando la criocamera Leica EM FC7 Leica; in questo modo sarà possibile preparare criosezioni (da -15° a -185 °C) per TEM, SEM, AFM e LM.
Leica Microsystems GmbH
... conduttivi per le analisi SEM e TEM non è mai stato così conveniente come con il sistema di rivestimento Leica EM ACE200. Configurato come dispositivo di rivestimento per polverizzazione o evaporazione ...
Leica Microsystems GmbH
Il sistema da scegliere per ottenere la massima risoluzione nelle analisi TEM e FE-SEM. L'unità Leica EM ACE600 è il sistema per la deposizione di film a vuoto spinto perfetto e versatile ...
Leica Microsystems GmbH
... Metodo innovativo di preparazione dei campioni per TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER Lo Ion Slicer è in grado di preparare campioni a film sottile senza solventi o sostanze ...
... La piattaforma Centri® di Markes International è il primo sistema che offre un campionamento non presidiato ad alta sensibilità e la preconcentrazione di VOC e SVOC in campioni liquidi, solidi e gassosi. ...
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