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Sistemi di preparazione di campioni per SEM
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... formazione di artefatti. Preparate i campioni per una valutazione dettagliata dell'immagine in condizioni ottimali: - Schermatura fredda attorno al campione per impedire alle molecole di acqua di congelarsi sul campione - ...
Leica Microsystems GmbH
... Con Leica EM VCT500 è possibile trasferire i campioni in condizioni criogeniche oa temperatura ambiente, così come sotto vuoto o in atmosfera protetta. ...
Leica Microsystems GmbH
... dispositivo di preparazione del target Leica EM TXP serve per la fresatura, il taglio, la polverizzazione e la lucidatura dei campioni prima dell'esame mediante microscopio elettronico a trasmissione (TEM) e microscopio ...
Leica Microsystems GmbH
... microscopia elettronica a scansione ( SEM), l'analisi microstrutturale (EDS, WDS, Auger, EBSD) e l'esame AFM. Tre fasci ionici (controllati singolarmente), il tavolino di raffreddamento e il tavolino per campioni multipli ...
Leica Microsystems GmbH
... L'unità Leica EM TRIM2 è un sistema di fresatura ad elevata velocità dotato di stereomicroscopio integrato e illuminatore ad anello a LED per il taglio di campioni biologici e industriali prima dell'ultramicrotomia. Il ...
Leica Microsystems GmbH
... UC Enuity Ultramicrotomo Devi produrre sezioni sottili o ultrasottili per la preparazione dei campioni da analizzare con la microscopia elettronica? UC Enuity: l'ultramicrotomo di nuova generazione che consente di ...
Leica Microsystems GmbH
... montando la criocamera Leica EM FC7 Leica; in questo modo sarà possibile preparare criosezioni (da -15° a -185 °C) per TEM, SEM, AFM e LM. ...
Leica Microsystems GmbH
... conduttivi per le analisi SEM e TEM non è mai stato così conveniente come con il sistema di rivestimento Leica EM ACE200. Configurato come dispositivo di rivestimento per polverizzazione o evaporazione di fibre di ...
Leica Microsystems GmbH
... Il sistema da scegliere per ottenere la massima risoluzione nelle analisi TEM e FE- SEM. L'unità Leica EM ACE600 è il sistema per la deposizione di film a vuoto spinto perfetto e versatile ideato per ...
Leica Microsystems GmbH
... il trattamento al plasma si rivela spesso troppo brusco, nel senso che altera o addirittura distrugge il campione. I pulitori ZONE di Hitachi per SEM e TEM offrono un'alternativa delicata e intelligente basata sulla luce ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... IM4000 II è un sistema modulare di lucidatura a ioni di argon controllato da computer che può essere equipaggiato come lucidatrice di superfici pure, come lucidatrice di sezioni trasversali o come sistema ibrido, a seconda ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... 'elaborazione sequenziale di diverse posizioni individuali; il supporto opzionale per campioni multipli consente l'elaborazione automatica di un massimo di 3 campioni. ArBlade 5000 / IM5000 è dotato di una pistola a ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... il trattamento al plasma si rivela spesso troppo brusco, nel senso che altera o addirittura distrugge il campione. I pulitori ZONE di Hitachi per SEM e TEM offrono un'alternativa delicata e intelligente basata sulla luce ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... La piattaforma Centri® di Markes International è il primo sistema che offre un campionamento non presidiato ad alta sensibilità e la preconcentrazione di VOC e SVOC in campioni liquidi, solidi e gassosi. Utilizzando l'avanzata ...
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