Stazione a sonda criogenica CPS-XXX-CF-PLUS

semiautomatica

I modelli CPS-XXX-CF-PLUS consentono di testare in modo rapido ed economico wafer e dispositivi a temperature criogeniche fino a 9K (sistema CCR singolo), 4,5K (sistema CCR doppio) o addirittura inferiori a 4K (sistema CCR triplo). Offriamo sistemi per il collaudo di wafer da 100 mm, 150 mm, 200 mm o 300 mm con capacità di blocco del carico opzionale. I sistemi possono essere configurati con bracci di sonda individuali (opzionalmente con sonde a cuneo) o con supporti per schede di sonda. È possibile eseguire sondaggi ad alta densità con >100 sonde CC. Questi sistemi sono ideali per il campo emergente dell'informatica quantistica e per i campi consolidati dell'elettronica superconduttiva. Caratteristiche - Bracci della sonda con regolazione manuale esterna del micromanipolatore. - Opzioni CCR multiple. - La configurazione standard include un tubo zoom 7:1X per una risoluzione migliore di 4 μm. 12.sono disponibili anche obiettivi zoom 5:1 e 16:1. - Efficiente isolamento dalle vibrazioni della pompa del vuoto. - Schermatura magnetica attiva e/o passabile opzionale.