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Microscopio ottico Eclipse LV100ND
per ispezione di inclusioni non metallicheper ispezioneper ispezione di wafer in linea

Microscopio ottico - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - per ispezione di inclusioni non metalliche / per ispezione / per ispezione di wafer in linea
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Caratteristiche

Tipo
ottico
Applicazioni tecniche
per ispezione di inclusioni non metalliche, per ispezione, per ispezione di wafer in linea, da laboratorio, di misura, medico, per ricerca sui materiali, per misurazione di profondità, per misurazioni su film sottili, per misurazione dimensionale senza contatto 3 assi, industriale, metallurgico, per controllo di qualità, multiuso
Ergonomia
dritto
Testa
trinoculare, binoculare
Tecniche di osservazione
in campo chiaro, a fluorescenza, polarizzato, a contrasto di fase, a sfondo scuro, a infrarossi, a contrasto interferenziale differenziale
Configurazione
da banco
Sorgente luminosa
a illuminazione a LED, a illuminazione coassiale
Altre caratteristiche
per acquisizione di immagini, a videocamera digitale, per topografia, per wafer, USB, ad alta risoluzione, automatizzato, ad alta precisione, per controllo fibra ottica, per nanotecnologie, a grande distanza di lavoro, ergonomico, modulare, acustico a scansione, per integrazione su microsopi e profilometri, per campioni piatti, 3 assi, di semplice installazione, a piastre scorrevoli, a forte contrasto, a forte ingrandimento, con regolazione dell'intensità luminosa, in tempo reale, per campioni levigati, di elaborazione di immagini, per semiconduttore, a motore, ad alta definizione, a temperatura variabile, bassa temperatura, con illuminazione speciale, per l'identificazione di amianto, con sistema di metrologia interferometrica in luce bianca, economico
Peso

9,5 kg
(20,9 lb)

Lunghezza

657 mm
(25,9 in)

Larghezza

251 mm
(9,9 in)

Altezza

506 mm
(19,9 in)

Descrizione

La serie di microscopi verticali ECLIPSE LV100NDA e LV100ND di Nikon, flessibile e modulare, è progettata per le tecniche di contrasto ottico episcopiche e diascopiche. Gli strumenti possono essere forniti con accessori per fotocamere digitali e sono ideali per l'ispezione dei materiali in molte applicazioni industriali. Microscopi montanti modulari motorizzati e manuali Le eccellenti ottiche Nikon CFI60-2 forniscono immagini eccellenti sia agli oculari che alle fotocamere digitali Nikon con software di analisi. Il design universale del microscopio consente di combinare tecniche di contrasto ottico complementari su un unico stativo per microscopio grazie a un programma di componenti modulari. Nikon ECLIPSE LV100NDA e LV100ND Questi microscopi con illuminazione episcopica e diascopica sono destinati all'ispezione di materiali e componenti industriali e ad applicazioni di ricerca e sviluppo. Serie ottica Nikon CFI60-2 Il design innovativo di Nikon consente tecniche di imaging chiare, tra cui contrasto elevato, campo chiaro, campo scuro, polarizzazione (POL), contrasto di interferenza differenziale (DIC) e interferometria a doppio raggio. Telecamere digitali Nikon Sight Tutte le fotocamere Nikon Digital Sight acquisiscono in modo efficiente le immagini di un campione e le trasmettono al software di elaborazione delle immagini della suite NIS-Elements, insieme ai dati del microscopio relativi all'obiettivo utilizzato, all'impostazione dell'ingrandimento e all'intensità della luce.

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Traduzione automatica  (Visualizza il testo originale in inglese)

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.