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- Sistema di misurazione di dimensione critica
- TZTEK Technology Co.,ltd
Sistema di misurazione di dimensione critica MT2010VIS/IRinfrarossocon telecameraper semiconduttore
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Caratteristiche
- Grandezza fisica
- di dimensione critica
- Tecnologia
- con telecamera, infrarosso
- Prodotto misurato
- per semiconduttore
- Altre caratteristiche
- automatico
Descrizione
Il sistema a infrarossi di TZTEK occupa una posizione leader a livello mondiale. Il sistema combina una termocamera a infrarossi ad alte prestazioni con un'ottica a infrarossi ottimizzata per generare immagini con una risoluzione e un contrasto eccellenti.
caratteristiche principali
-Misurazione automatica
-Combinazione di luce visibile e infrarossa in modalità riflessa e trasmessa
-SECS/GEM
-Basso costo di manutenzione, stabile e affidabile
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.