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... calibrazione automatica è integrata. caratteristiche principali -Misurazione di dimensioni critiche, sovrapposizione -Personalizzazione disponibile per OC, SMIF e FOUP -Disponibile per ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... calibrazione automatica è integrata. caratteristiche principali -Misurazione di dimensioni critiche, sovrapposizione -Personalizzazione disponibile per OC, SMIF e FOUP -Disponibile per ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... calibrazione automatica è integrata. caratteristiche principali -Misurazione dello spessore del film e delle dimensioni critiche -Disponibile per wafer di dimensioni ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... nell'intervallo di alcuni nanometri. caratteristiche principali -Misura delle dimensioni critiche, ispezione dei difetti, revisione della maschera -Disponibile per maschere di dimensioni ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... per lo più nell'intervallo di alcuni nanometri. caratteristiche principali -Misura della dimensione critica della maschera -Disponibile per maschere di dimensioni fino a 6 pollici -Illuminazione ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... fornisce obiettivi a lunga distanza di lavoro per la protezione della maschera con pellicole. Per la misurazione del CD sulla maschera, il sistema fornisce illuminazione visibile e UV in modalità riflessa ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... Il sistema a infrarossi di TZTEK occupa una posizione leader a livello mondiale. Il sistema combina una termocamera a infrarossi ad alte prestazioni con un'ottica a infrarossi ottimizzata per generare ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... Il sistema a infrarossi di TZTEK occupa una posizione leader a livello mondiale. Il sistema combina una termocamera a infrarossi ad alte prestazioni con un'ottica a infrarossi ottimizzata per generare ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... Il sistema a infrarossi di TZTEK occupa una posizione leader a livello mondiale. Il sistema combina una termocamera a infrarossi ad alte prestazioni con un'ottica a infrarossi ottimizzata per generare ...
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