- Metrologia - Laboratorio >
- Attrezzature di Laboratorio >
- Microscopio con filamenti in tungsteno
Microscopi con filamenti in tungsteno
Raggiungi nuovi clienti 365 giorni all'anno grazie a un'unica piattaforma
Diventa espositore{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione di filamenti di tungsteno ad alte prestazioni. Ha eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità ad alto che a basso ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4,5, 3,9 nm
... Specifiche del microscopio CIQTEK SEM2100 SEM Ottica elettronica Risoluzione: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm a 20 kV, BSE Tensione di accelerazione: 0,5 kV ~ 30 kV Ingrandimento (Polaroid): ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg
CIQTEK SEM5000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) ad altissima risoluzione con risoluzione rivoluzionaria di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sfruttando il processo di progettazione ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 1 unit - 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 2,5 nm - 5 nm
Lunghezza: 926 mm
... elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione che da tempo caratterizzava tali SEM, consentendo al SEM ...
CIQTEK Co., Ltd.

... Il microscopio elettronico a scansione (SEM) di 4a generazione di TESCAN VEGA con sorgente di elettroni a filamento di tungsteno combina l'imaging SEM e l'analisi della ...
Raggiungi nuovi clienti 365 giorni all'anno grazie a un'unica piattaforma
Diventa espositoreChe cosa potremmo migliorare?
i migliori fornitori
Iscriviti alla nostra newsletter
Ricevi ogni due settimane le novità di questa sezione
Per maggiori informazioni sul trattamento dei tuoi dati personali, consulta l’informativa sulla privacy di DirectIndustry.
- Tutti i marchi
- Area Produttori
- Area Visitatori
- I nostri servizi
- Iscriviti alla newsletter
- VirtualExpo: chi siamo
Si prega di specificare:
Aiutaci a migliorare:
caratteri restanti