Sistema di ispezione per wafer - Tutti i produttori del settore industriale

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Confronta con altri prodotti Rimuovi

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Confronta con altri prodotti Rimuovi

sistema di ispezione a semiconduttoreDI2800

per rilevamento di difetti per l'industria automobilistica per wafer

sistema di ispezione a semiconduttore

DI2800

... automobilistico. L'ottimizzazione della sequenza di ispezione consente una velocità di ispezione dei difetti di oltre quaranta fogli di wafer da 200 mm all'ora. - Rilevamento dei difetti ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

sistema di ispezione a raggioDI4600

per wafer in linea

sistema di ispezione a raggio

DI4600

... Maggiore produttività e sensibilità di rilevamento per la produzione di grandi volumi - Come sistemi di ispezione dei difetti dei wafer in campo scuro, i sistemi DI4600 ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

sistema di ispezione di difetto di superficie392x series

per wafer

sistema di ispezione di difetto di superficie

392x series

... Sistemi di ispezione dei difetti dei wafer con pattern al plasma a banda larga a super risoluzione I sistemi di ispezione dei difetti al plasma a banda ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

Altri prodotti
KLA - TENCOR

sistema di ispezione ottico

automatico per la produzione per wafer

sistema di ispezione ottico

... Capacità Capacità media fino a 8500 wafer/ora provata nella produzione di massa effettiva Espandibilità Il sistema può lavorare con trasportatori che caricano da 25 a 150 wafer e può ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

sistema di ispezione a fotoluminescenzaImperia®

ottico 3D automatizzato

sistema di ispezione a fotoluminescenza

Imperia®

... Grazie alla sua esclusiva tecnologia di progettazione ottica, il sistema Imperia rileva e classifica i difetti che uccidono la resa, con l'ulteriore vantaggio di un monitoraggio simultaneo della produzione in fotoluminescenza ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

Altri prodotti
Onto Innovation Inc.

sistema di ispezione di superficie di vetroGWI

per wafer

sistema di ispezione di superficie di vetro

GWI

... Il sistema GWI è stato costruito per rilevare difetti nei wafer di vetro nelle prime fasi del ciclo produttivo. Il sistema è basato su una smart camera ad alta risoluzione per soddisfare ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

sistema di ispezione a camera

automatico per rilevamento di difetti per wafer

sistema di ispezione a camera

... residui metallici e perdite di metallo Risoluzione ad alta precisione Risoluzione del sistema: 0.2-0,8 μ m Rapida velocità di rilevamento Wafer sagomato: 15 minuti / wafer quando il ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

sistema di ispezione a cameraMicroProf® DI

ottico 2D a infrarossi

sistema di ispezione a camera

MicroProf® DI

... Lo strumento di ispezione ottica FRT MicroProf DI consente di ispezionare wafer strutturati e non strutturati durante l'intero processo di produzione. Combinando l'ispezione e la metrologia ...

Confronta con altri prodotti Rimuovi

Sistemi di ispezione per wafer

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}