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sistema di ispezione per rilevamento di difetti
... di metallo - Risoluzione ad alta precisione Risoluzione del sistema: 0.2-0,8 μ m - Rapida velocità di rilevamento Wafer sagomato: 15 minuti / wafer quando il numero di difetti ...
... Sistemi di ispezione ad alta produttività per wafer sagomati ad ampio spettro I sistemi di ispezione per wafer sagomati della Serie 8 rilevano un'ampia ...
KLA Corporation
... Capacità Capacità media fino a 8500 wafer/ora provata nella produzione di massa effettiva Espandibilità Il sistema può lavorare con trasportatori che caricano da 25 a 150 wafer e può essere integrato ...
... Grazie alla sua esclusiva tecnologia di progettazione ottica, il sistema Imperia rileva e classifica i difetti che uccidono la resa, con l'ulteriore vantaggio di un monitoraggio simultaneo della produzione in fotoluminescenza (PL) all'avanguardia Panoramica ...
Onto Innovation Inc.
... Il sistema GWI è stato costruito per rilevare difetti nei wafer di vetro nelle prime fasi del ciclo produttivo. Il sistema è basato su una smart camera ad alta risoluzione per soddisfare la precisione ...
... Lo strumento di ispezione ottica FRT MicroProf DI consente di ispezionare wafer strutturati e non strutturati durante l'intero processo di produzione. Combinando l' ispezione e la metrologia 2D, MicroProf ...
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