Sistemi di posizionamento per applicazioni ottiche

Ripetibilità: 1 µm
Carico: 15 kg
Corsa: 200 mm - 1.000 mm

... Gantry XYZ per applicazioni altamente dinamiche Personalizzabile - Ideale per applicazioni dinamiche e di alta precisione - Campo di corsa molto ampio di 1300 x 800 mm - Accelerazioni e velocità elevate ...

Ripetibilità: 0,3 µm - 2,5 µm
Carico: 5 kg - 20 kg
Corsa: 100 mm - 720 mm

... contemporaneamente Questo sistema di ispezione è composto da quattro assi per camera bianca e consente la misurazione automatizzata di più oggetti contemporaneamente. Si ottiene un'elevata dinamica e la massima riproducibilità. ...

Ripetibilità: 0,3 µm - 0,5 µm
Corsa: 50 mm - 200 mm
Velocità: 30 mm/s

... Sistema di posizionamento XYZ per l'ispezione ottica automatizzata ad alta precisione Personalizzabile: - Ideale per processi di ispezione automatizzati ad alta ...

Ripetibilità: 0,3 µm - 0,4 µm
Corsa: 100 mm - 200 mm
Velocità: 15 mm/s - 25 mm/s

... Sistema XYZ con controller Personalizzabile: - Ideale per l'impostazione e l'espansione della vostra applicazione - Ripetibilità estremamente precisa fino a 0,3 µm - Passi minimi e massima affidabilità ...

Ripetibilità: 0,8 µm - 4 µm
Carico: 1 kg
Corsa: 25 mm - 25 mm

... Questo sistema X-Y-Z miniaturizzato è ideale per le applicazioni di posizionamento in spazi limitati. In combinazione con un mandrino a filettatura fine, lo stadio XYZ raggiunge valori ...

Ripetibilità: 0,001 µm - 3,5 µm
Carico: 6,5 kg
Corsa: 4 mm - 20 mm

... sistema di posizionamento XYZ-Theta-Phi-Delta miniaturizzato a 6 assi (camera bianca ISO 5) Personalizzabile: - Ideale per l'ispezione automatizzata di wafer e ottiche fino a 300 mm ...

Ripetibilità: 5 µm
Carico: 30 kg
Corsa: 300 mm

... Stadi XY a telaio aperto progettati con un profilo basso per un'ampia gamma di posizionamenti accurati automatizzati in applicazioni basate su microscopi. Il meccanismo di azionamento si trova sul lato ...