Strumento di misura a fluorescenza da raggi X per la misura e l'analisi in continuo e in linea di film sottili come CIGS, CIS o CdTe, durante il processo di produzione
* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.