L'IR-VASE® è il primo e unico ellissometro spettroscopico che combina la sensibilità chimica della spettroscopia FTIR con la sensibilità del film sottile dell'ellissometria spettroscopica. L'IR-VASE copre l'ampia gamma spettrale da 1,7 a 30 micron (da 333 a 5900 wavenumbers). Viene utilizzato per caratterizzare sia i film sottili che i materiali sfusi nella ricerca e nell'industria. Questa tecnologia in rapida crescita sta trovando impiego nei rivestimenti ottici, nei semiconduttori, nelle industrie biologiche e chimiche, così come nei laboratori di ricerca.
Ampia gamma spettrale
Copre dal vicino al lontano infrarosso.
1.Da 7 a 30 micron
(da 333 a 5900 wavenumbers)
Risoluzione da 1cm-1 a 64cm-1
Alta sensibilità alle pellicole ultrasottili
I dati dell'ellissometria spettroscopica contengono sia informazioni di "fase" che di "ampiezza" dalla luce riflessa o trasmessa. Le informazioni di fase dell'ellissometria IR offrono una maggiore sensibilità ai film ultrasottili rispetto alla riflessione/assorbanza FTIR, pur mantenendo la sensibilità alla composizione chimica.
Caratterizzazione non distruttiva
L'IR-VASE offre misurazioni senza contatto e non distruttive di molte proprietà diverse dei materiali. Le misure non richiedono il vuoto e possono essere utilizzate per studiare le interfacce liquido/solido comuni nelle applicazioni biologiche e chimiche.
Nessuna linea di base o campione di riferimento richiesto
L'elissometria è una tecnica di auto-riferimento che non richiede campioni di riferimento per mantenere la precisione. Campioni più piccoli del diametro del fascio possono essere misurati perché non è necessario raccogliere l'intero fascio.
Misurazione altamente accurata
Le procedure brevettate di calibrazione e di acquisizione dei dati forniscono misure accurate di Ψ e Δ sull'intera gamma dello strumento.
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