Spettrometro XRF EA-XF3500X
a fluorescenza a raggi Xper il settore edileper l'industria mineraria

Spettrometro XRF - EA-XF3500X - Labfreez Instruments Group Co., Ltd - a fluorescenza a raggi X / per il settore edile / per l'industria mineraria
Spettrometro XRF - EA-XF3500X - Labfreez Instruments Group Co., Ltd - a fluorescenza a raggi X / per il settore edile / per l'industria mineraria
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti

Caratteristiche

Tipo
XRF, a fluorescenza a raggi X
Settore
per il settore edile, per l'industria mineraria, per l'industria metallurgica, per analisi elementare
Configurazione
compatto, da banco
Altre caratteristiche
a lettura diretta
Lunghezza

36,8 cm
(14,49 in)

Larghezza

46,8 cm
(18,43 in)

Altezza

13,6 cm
(5,35 in)

Descrizione

Utilizzo principale
Il EA-XF3500 è un analizzatore a fluorescenza a raggi X che eccita il campione con raggi X e rileva i raggi X caratteristici prodotti per fornire risultati qualitativi e quantitativi su silice e allumina. È impiegato in settori industriali come metallurgia, estrazione mineraria e materiali da costruzione; è comunemente usato negli impianti di cemento per misurare SiO2 e Al2O3 in materie prime, clinker, calcare e argilla.

Caratteristiche principali
  • Progetto integrato con microcomputer, struttura compatta e finitura adatta all'uso industriale.
  • Schermo LCD di grande formato con menu in inglese per un'operatività semplice.
  • Analisi rapida: risultati percentuali per SiO2 e Al2O3 in 60 s (tipico).
  • Misura non distruttiva: i campioni non vengono alterati e possono essere riutilizzati.
  • Non richiede reagenti chimici né sorgente radioattiva; basso consumo energetico e assenza di emissioni.
  • Elevata capacità di archiviazione: risultati e log di autoverifica consultabili.
  • Conforme a GB/T19140 (principi generali per l'analisi del cemento mediante fluorescenza a raggi X).

Indicatori tecnici
  • Intervallo di analisi: SiO2, Al2O3 0,01%–100%.
  • Precisione (deviazione standard): SiO2 ≤ 0,10%; Al2O3 ≤ 0,08%.
  • Range di analisi: (max − min) ≤ 15% per elemento (es.: SiO2 materia prima 10%–25%, calibrato in base alla curva di lavoro).
  • Tempo di analisi: n × 60 s (n = 1–5).
  • Condizioni d'uso: alimentazione AC 200V–240V; temperatura ambiente 0–40℃; umidità relativa <85% (a 30℃).
  • Consumo totale: <30 W.
  • Dimensioni (L×P×A): 468 × 368 × 136 mm.
  • Peso: 13,8 kg.

Specifiche tecniche
  • Modello / SKU: EA-XF3500
  • Elementi misurati: silice (SiO2) e allumina (Al2O3)
  • Intervallo di misura: 0,01%–100%
  • Precisione (deviazione standard): SiO2 ≤ 0,10%; Al2O3 ≤ 0,08%
  • Tempo di analisi tipico: 60 s (configurabile fino a 5 × 60 s)
  • Alimentazione: AC 200V–240V
  • Consumo: <30 W
  • Temperatura di esercizio: 0–40℃; Umidità relativa: <85% (a 30℃)
  • Dimensioni (L×P×A): 468 × 368 × 136 mm
  • Peso: 13,8 kg

Cataloghi

Nessun catalogo è disponibile per questo prodotto.

Vedi tutti i cataloghi di Labfreez Instruments Group Co., Ltd

Altri prodotti Labfreez Instruments Group Co., Ltd

Analysis Instruments

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.