Utilizzo principaleIl EA-XF3500 è un analizzatore a fluorescenza a raggi X che eccita il campione con raggi X e rileva i raggi X caratteristici prodotti per fornire risultati qualitativi e quantitativi su silice e allumina. È impiegato in settori industriali come metallurgia, estrazione mineraria e materiali da costruzione; è comunemente usato negli impianti di cemento per misurare SiO2 e Al2O3 in materie prime, clinker, calcare e argilla.
Caratteristiche principali- Progetto integrato con microcomputer, struttura compatta e finitura adatta all'uso industriale.
- Schermo LCD di grande formato con menu in inglese per un'operatività semplice.
- Analisi rapida: risultati percentuali per SiO2 e Al2O3 in 60 s (tipico).
- Misura non distruttiva: i campioni non vengono alterati e possono essere riutilizzati.
- Non richiede reagenti chimici né sorgente radioattiva; basso consumo energetico e assenza di emissioni.
- Elevata capacità di archiviazione: risultati e log di autoverifica consultabili.
- Conforme a GB/T19140 (principi generali per l'analisi del cemento mediante fluorescenza a raggi X).
Indicatori tecnici- Intervallo di analisi: SiO2, Al2O3 0,01%–100%.
- Precisione (deviazione standard): SiO2 ≤ 0,10%; Al2O3 ≤ 0,08%.
- Range di analisi: (max − min) ≤ 15% per elemento (es.: SiO2 materia prima 10%–25%, calibrato in base alla curva di lavoro).
- Tempo di analisi: n × 60 s (n = 1–5).
- Condizioni d'uso: alimentazione AC 200V–240V; temperatura ambiente 0–40℃; umidità relativa <85% (a 30℃).
- Consumo totale: <30 W.
- Dimensioni (L×P×A): 468 × 368 × 136 mm.
- Peso: 13,8 kg.
Specifiche tecniche- Modello / SKU: EA-XF3500
- Elementi misurati: silice (SiO2) e allumina (Al2O3)
- Intervallo di misura: 0,01%–100%
- Precisione (deviazione standard): SiO2 ≤ 0,10%; Al2O3 ≤ 0,08%
- Tempo di analisi tipico: 60 s (configurabile fino a 5 × 60 s)
- Alimentazione: AC 200V–240V
- Consumo: <30 W
- Temperatura di esercizio: 0–40℃; Umidità relativa: <85% (a 30℃)
- Dimensioni (L×P×A): 468 × 368 × 136 mm
- Peso: 13,8 kg