Sistema di preparazione di campione per SEM EM TIC 3X
di polimero

sistema di preparazione di campione per SEM
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Caratteristiche

Applicazioni
per SEM, di polimero

Descrizione

Ottenere sezioni trasversali di elevata qualità di quasi ogni materiale, rivelare le strutture interne del campione praticamente senza deformazioni o danni non è mai stato così comodo grazie al dispositivo Leica EM TIC 3X. La fresa a triplo fascio ionico, Leica EM TIC 3X consente la produzione di sezioni trasversali di materiali duri/morbidi, porosi, sensibili al calore, fragili ed eterogenei per la microscopia elettronica a scansione (SEM), l'analisi microstrutturale (EDS, WDS, Auger, EBSD) e l'esame AFM. Tre fasci ionici (controllati singolarmente), il tavolino di raffreddamento e il tavolino per campioni multipli garantiscono la fresatura alle più elevate velocità, un taglio ampio e profondo nel campione, con conseguenti sezioni trasversali di elevata qualità.

Cataloghi

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

Global Industrie 2024
Global Industrie 2024

25-28 mar 2024 París Villepinte (Francia) Stand 5S116

  • Maggiori informazioni
    BIEMH 2024
    BIEMH 2024

    3-07 giu 2024 Bilbao (Spagna) Hall 3 - Stand D-43

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.