Microscopio con sonda di scansione NX10
da ricercaad alta risoluzione

Microscopio con sonda di scansione - NX10 - Park Systems - da ricerca / ad alta risoluzione
Microscopio con sonda di scansione - NX10 - Park Systems - da ricerca / ad alta risoluzione
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Caratteristiche

Tipo
con sonda di scansione
Applicazioni tecniche
da ricerca
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione

Descrizione

L'AFM Park NX10 è un AFM di ricerca per un'ampia gamma di campi di applicazione che vanno dai polimeri, alla nanoelettronica, alle applicazioni fotoniche e fotovoltaiche, alla biofisica e alla chimica fisica. È dotato di un vero AFM senza contatto che prolunga la durata della punta preservando il campione e di uno scanner XY e Z indipendente basato sulla flessione per una precisione e una risoluzione senza precedenti. Grazie a SmartScan, il software operativo automatizzato di Park, NX10 è in grado di eseguire una configurazione più rapida e semplice e di raccogliere dati ottimali con soli tre clic del mouse. Park NX10 è disponibile anche con il modulo SCIM come standard per l'imaging su scala nanometrica in ambienti acquosi per un'ampia gamma di applicazioni come la biologia cellulare, la chimica analitica, l'elettrofisiologia e le neuroscienze Caratteristiche tecniche principali: scanner 2D a guida flessionale con intervallo di scansione di 50 µm x 50 µm * Scanner Z ad alta velocità con intervallo di scansione di 15 µm * Sensori di posizione XYZ a basso rumore * Palcoscenico XY motorizzato per campioni * Automazione step-and-scan * Modulo di microscopia a conduzione ionica a scansione

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.