Microscopio sotto vuoto ultra-spinto NX-Hivaca forza atomicadi misuraCCD
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
Caratteristiche
- Tipo
- a forza atomica
- Applicazioni tecniche
- di misura
- Tipo di rilevatore
- CCD
- Altre caratteristiche
- a grande distanza di lavoro, sotto vuoto ultra-spinto
- Risoluzione spaziale
1 µm
Descrizione
Park NX-Hivac è un microscopio a forza atomica ad alto vuoto per l'analisi dei guasti e la ricerca sui materiali sensibili all'atmosfera.
Poiché la scansione ad alto vuoto offre una maggiore precisione e una migliore ripetibilità rispetto alle condizioni ambientali o di N2 secco, gli utenti possono ad esempio misurare un'ampia gamma di concentrazioni di drogante e la risposta del segnale nelle applicazioni di analisi dei guasti.
---
Cataloghi
* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.