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Microscopi di metrologia
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Diventa espositore{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
microscopio elettronico a scansioneVerios 5 XHR
Risoluzione spaziale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caratterizzazione al microscopio elettronico a scansione di nanomateriali con risoluzione sub-nanometrica e alto contrasto del materiale. Microscopio elettronico a scansione Verios 5 XHR Il SEM Verios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ingrandimento: 6 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Larghezza: 340 mm
... qualsiasi altro SEM Thermo Scientific e include tre modalità di vuoto che supportano il degassamento e i campioni non compatibili con il vuoto. Offre risultati ad alta risoluzione grazie a una pistola a emissione di campo (FEG) unica ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Larghezza: 340 mm
... combinazione di queste tecnologie significa che gli utenti nuovi alla microscopia elettronica possono accedere alle prestazioni di fascia alta del SEM Apreo 2. Inoltre, il SEM Apreo 2 è l'unico SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ingrandimento: 20 unit - 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,08, 0,1 nm
... L'HF5000 è un S/TEM con correzione Cs personalizzabile per esperimenti in situ. La particolarità è data dal rivelatore Everhart Thornley SE, che riproduce la superficie del campione a 60-200kV, proprio come in un SEM. Ciò è particolarmente vantaggioso ...
Ingrandimento: 10 unit
Risoluzione spaziale: 1 nm
Peso: 50 kg
... 1. Alta precisione e alta ripetibilità 1) Il sistema di misurazione basato sul sistema ottico confocale rotante, combinato con un design strutturale ad alta stabilità e un eccellente algoritmo di ricostruzione 3D, è composto congiuntamente per garantire ...
Ingrandimento: 10 unit - 220 unit
Peso: 110 g
Lunghezza: 11,9 cm
... Il Dino-Lite AM73915MZT appartiene alla gamma High Speed Real Time con connessione USB 3.0. Garantisce un'immagine non compressa di eccellente qualità e un'ottima riproduzione del colore, rivestita da una custodia in robusto metallo, compatto ed elegante. La ...
Ingrandimento: 10 unit - 140 unit
Peso: 110 g
Lunghezza: 11,9 cm
Il Dino-Lite AM73915MZTL è un modello per lunghe distanze di lavoro e fa parte della gamma High Speed Real Time con connessione USB 3.0. Garantisce un'immagine non compressa di eccellente qualità e un'ottima riproduzione del colore, rivestita da una custodia ...
Ingrandimento: 40 unit - 800 unit
Ingrandimento: 40, 20 unit
... Applicazione del prodotto ● Un tipo di strumento di metrologia ottica, con le caratteristiche di una struttura semplice, un funzionamento conveniente e un'ampia applicabilità. Illuminazione ● Misurare la distanza del foro, la larghezza ...
... UHR SEM per la caratterizzazione dei nanomateriali su scala sub-nanometrica - Imaging ad alta risoluzione e ad alto contrasto di materiali nextgen (ad esempio strutture catalizzatrici, nanotubi, nanoparticelle e altre strutture su scala ...
Ingrandimento: 2 unit - 200 unit
... MZM 1 - Macro - Microscopio zoom Macro - Microscopio Zoom per i vostri compiti di misura Per un continuo cambiamento degli ingrandimenti più bassi il nostro microscopio MZM 1 con un rapporto di zoom ...
Risoluzione spaziale: 0,15, 0,02 nm
Peso: 2.720 kg
Lunghezza: 1.450 mm
... Park NX-Tip - Sistema automatizzato di microscopia a forza atomica (AFM) per la misurazione di display a schermo piatto ultra grandi e pesanti su scala nanometrica Per rispondere alla crescente domanda di metrologia ...
Ingrandimento: 19 unit - 120 unit
... L'unità LD 260 di Metrology è dotata di un display in grado di supportare immagini da 1,3 megapixel. Questa unità da 8,4" offre agli operatori la possibilità di ingrandire le immagini nell'intervallo da 18,67 a 120x. Può riduplicare e visualizzare immagini ...
Risoluzione spaziale: 0,5 µm
... utilizzato nell'industria meccanica, dei contatori, elettronica e leggera; nelle università, negli istituti e nei dipartimenti di metrologia. Il proiettore di profili di misura è in grado di rilevare la dimensione del contorno e la forma ...
Ingrandimento: 40 unit - 100 unit
... OptiMIC Microscopio Microscopio con goniometro per macchine EWAG WS11. N°: MA 118GC-031 Specifiche: - Immagine reale. - Angolo di osservazione 30°. - Ingrandimento standard da 40X a 100X. - Goniometro 360° e verniero ...
... Misurare automaticamente più aree su più parti AI-Analyzer determina facilmente le principali differenze di superficie Il microscopio di profilazione ottica 3D della serie VK-X4000 combina i metodi di confocale laser, interferometria ...
... da regolazioni di messa a fuoco. •Struttura in acciaio inossidabile ultra-resistente. •Disponibile in due varianti di Microscopio Brinell: 20x ingrandimento, scala 0-6mm, divisioni da 0,1mm. / 40x ingrandimento, scala 0-3mm, divisioni ...
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