Probe card

Le schede di sonde verticali consentono la "misurazione multi-die" e la "misurazione full-wafer", superando le limitazioni delle schede di sonde di tipo cantilever. Perfette per le applicazioni WL-CSP e FlipChip, le nostre schede sonda supportano facilmente elettrodi a passo stretto e disposti a griglia. La nostra tecnologia avanzata gestisce condizioni speciali, tra cui corrente elevata, assenza di magnetismo, elevata resistenza al calore e altro ancora. Per le connessioni del tester, è possibile scegliere tra il montaggio diretto su una scheda dedicata o il cablaggio su una scheda universale. In Seiken, ogni prodotto è realizzato meticolosamente per soddisfare le vostre esigenze specifiche, garantendo prestazioni affidabili in una varietà di ambienti. Le nostre soluzioni su misura sono progettate per fornire risultati coerenti e accurati per tutte le vostre esigenze di test. Avete domande o avete bisogno di una soluzione personalizzata? Contattateci in qualsiasi momento: siamo qui per aiutarvi!