Con l'avanzare delle tecnologie automobilistiche come gli IGBT, la necessità di test ad alta corrente, gestendo diverse centinaia di ampere attraverso elettrodi emettitori, sta crescendo rapidamente. Le schede di prova tradizionali spesso faticano sotto queste condizioni estreme, anche quando la distribuzione del carico è ottimizzata su più pin.
La scheda di prova ad alta corrente di Seiken supera queste barriere incorporando la tecnologia CNT (nanotubo di carbonio) alle punte delle sonde, aumentando drasticamente la capacità di corrente consentita. Inoltre, il corpo principale della scheda è costruito con una struttura metallica robusta che consente al corrente di fluire anche attraverso l'alloggiamento, minimizzando il carico su ciascun pin individuale. Questo design innovativo consente misurazioni ad alta corrente molto più stabili e affidabili.
- Capacità di alta corrente: Le sonde sono rinforzate con tecnologia CNT e una struttura di alloggiamento metallico, migliorando notevolmente la resistenza alla corrente. Rispetto alle sonde a filo tradizionali, la lunghezza del terminale più corta offre una minore induttanza, contribuendo a prestazioni superiori.
- Caratteristiche AC superiori: Riducendo l'altezza della scheda di prova a meno della metà dei 30 mm convenzionali, si ottengono prestazioni AC significativamente migliorate e una maggiore stabilità di misurazione.
- Soluzioni completamente personalizzabili: Ogni scheda di prova è progettata su misura per integrarsi con i vostri manipolatori di chip e tester. La produzione flessibile è disponibile a partire da un'unità singola fino alla produzione su larga scala.
Esempi di applicazione:
- Dispositivi di potenza (IGBT, dispositivi SiC, GaN)
- Semiconduttori di potenza (MOSFET ad alta tensione, diodi)
Prodotti correlati:
- Tecnologia ad alta corrente: Le sonde placcate CNT (nanotubo di carbonio) di Seiken per applicazioni ad alta corrente offrono bassa resistenza, resistenza al calore e maggiore durata, garantendo un contatto affidabile con elettrodi in alluminio e altri ambienti di test impegnativi.
- Sockets IC HC-C: Costruiti con tecnologia proprietaria HC-C (High Current Cube), questi sockets offrono una capacità di trasporto di corrente eccezionale per terminale e forniscono prestazioni elettriche solide. Ideali per applicazioni ad alta potenza, come dispositivi automobilistici e di potenza, assicurano test stabili ed efficienti in condizioni impegnative.
- Supporti per sonde (accessori di test personalizzati): Noti anche come blocchi di pin, i supporti per sonde sono essenziali per il sondaggio di precisione nei test di componenti elettronici. I nostri supporti per sonde assicurano un allineamento perfetto e un contatto stabile, sia che si utilizzino formati standard o che si necessiti di un design completamente personalizzato.
Specifiche tecniche / Caratteristiche:
- Incorpora tecnologia CNT (nanotubo di carbonio) alle punte delle sonde
- Struttura metallica robusta per il flusso di corrente attraverso l'alloggiamento
- Resistenza ad alta corrente (diverse centinaia di ampere)
- Minore induttanza grazie alla lunghezza del terminale più corta
- Altezza della scheda di prova ridotta per migliorare le prestazioni AC
- Progettato su misura per l'integrazione con manipolatori di chip e tester
- Produzione flessibile da un'unità singola alla produzione su larga scala