Probe card non magnetica

a passo fine

Le schede di prova non magnetiche di Seiken sono progettate da zero, supportate da anni di esperienza. Ogni dettaglio, dalla selezione dei materiali e dalla lavorazione di precisione al trattamento delle superfici, alla produzione di PCB e all'assemblaggio, è gestito con cura all'interno di un processo completamente integrato. Il risultato è una scheda di prova che offre ispezioni stabili e di alta precisione anche negli ambienti più sensibili ai campi magnetici. - Un kit di socket opzionale espande ulteriormente la funzionalità, rendendo queste schede di prova ideali per test manuali di dispositivi confezionati. - Ideali per testare componenti sensibili ai campi magnetici, come le bussole elettroniche, le nostre schede di prova non magnetiche offrono soluzioni affidabili dove è essenziale una precisione di misurazione senza compromessi. - Array di pin di prova flessibile: Con le capacità di progettazione avanzate di Seiken, gli array di pin possono essere configurati in modo flessibile per soddisfare i requisiti specifici del tuo dispositivo, garantendo prestazioni e precisione ottimali. - Capacità di passo fine — Test di precisione a un passo di 150µm: Supporta passi ultra fini fino a 150µm, rendendolo ideale per test di alta precisione di componenti elettronici miniaturizzati. - Soluzione completa chiavi in mano: Dal design alla produzione e all'assemblaggio, Seiken fornisce una produzione completamente integrata, consegnando la scheda di prova non magnetica ottimale adattata al tuo ambiente di test. - Produzione in piccoli lotti disponibile: Le schede di prova personalizzate sono disponibili a partire da una singola unità, offrendo supporto flessibile per prototipi, progetti di sviluppo e applicazioni specializzate. - Opzione kit di socket per test manuali: Migliora la flessibilità aggiungendo un kit di socket opzionale, consentendo di utilizzare lo stesso ambiente non magnetico per test manuali efficienti di dispositivi confezionati. Esempi di applicazione: - Ispezione di precisione di bussole elettroniche - Caratterizzazione di CI Hall - Test di influenza dei campi magnetici per sensori MR e MI - Test di alta precisione in ambienti sensibili ai campi magnetici Esempio di soluzione personalizzata: - Scheda di prova non magnetica per dispositivi sensori magnetici (utilizzata da produttori di semiconduttori, processi di semiconduttori front-end e back-end) Caratteristiche / Specifiche tecniche: - Costruzione non magnetica per ambienti sensibili ai campi magnetici - Supporta array di pin di prova con configurazione flessibile - Capacità di passo fine fino a 150µm - Design, produzione e assemblaggio integrati - Kit di socket opzionale per test manuali - Disponibile per produzione in piccoli lotti (a partire da una singola unità) - Ispezione stabile e di alta precisione