Probe card verticale

di corrente forte

Le nostre schede di sonda avanzate sono strumenti essenziali per i test a livello di wafer nella produzione di semiconduttori. Queste schede consentono test accurati dei chip IC prima che vengano montati su substrati, aiutando a rilevare i difetti precocemente nel processo di produzione e migliorare la qualità complessiva del prodotto. Trasmettendo e ricevendo segnali elettrici a ciascun pin sul wafer, le schede di sonda raccolgono dati di test vitali, garantendo che ogni chip funzioni come previsto. Svolgono un ruolo cruciale nell'identificazione dei problemi durante le fasi iniziali della produzione di semiconduttori. Aumenta l'efficienza dei test con le schede di sonda di tipo verticale avanzato: A differenza delle tradizionali schede di sonda di tipo cantilever, il nostro design avanzato di tipo verticale supporta test multi-die simultanei e misurazioni di wafer completi. Questo aumenta notevolmente la produttività e riduce i tempi di test. Grazie alla tecnologia di contatto di precisione, queste schede supportano anche test ad alta frequenza e alta corrente con un'affidabilità eccezionale. Il loro design intuitivo facilita la manutenzione, minimizzando i tempi di inattività e massimizzando la produttività. Che tu voglia ottimizzare il tuo processo di test o migliorare la precisione delle misurazioni, offriamo soluzioni flessibili adattate alle tue esigenze. La Struttura delle Schede di Sonda Avanzate Le schede di sonda avanzate di Seiken sono progettate per l'eccellenza, con una testa di sonda e un substrato di scheda di sonda (PCB). Ogni testa di sonda è progettata e prodotta internamente, utilizzando tecnologia di lavorazione di alta precisione. Questo approccio garantisce precisione e prestazioni affidabili. - Testa di sonda: Lavorata da plastica ingegneristica o ceramiche, modellata per adattarsi alle tue esigenze di test. - I materiali disponibili includono: - Resina – plastiche: Sumika Super, Topfine e altre plastiche ingegneristiche. - Ceramiche: Photoveel, tra gli altri. Questi materiali offrono un'eccellente durata e fissazione stabile della sonda, aiutando a creare l'ambiente di test ideale. - Substrati di scheda di sonda: Sono offerti due tipi di PCB per adattarsi al tuo ambiente di test. - PCB personalizzato (per produzione di massa e test critici di prestazioni): Progettato specificamente per l'applicazione di ciascun cliente, questi PCB consentono la massima personalizzazione e condizioni di test precise. - PCB generale: Compatibile con molti produttori di tester principali, questi PCB offrono configurazioni flessibili utilizzando fili di ponticello e blocchi di pin per adattarsi a una vasta gamma di test. Nota: Alcuni PCB generali sono design proprietari di Seiken. - Opzioni di connessione: Adattate alle tue esigenze di test. - PCB personalizzato (Alta precisione, Nessun cablaggio): Il design di docking diretto collega la testa di sonda al PCB, eliminando il cablaggio interno e minimizzando la perdita di segnale. Vantaggi: Costi a lungo termine inferiori per ambienti di produzione di massa. Ideale per applicazioni con layout di dispositivi fissi. - PCB generale (Flessibile e Altamente Compatibile): Progettato con un'apertura centrale, questa configurazione consente un montaggio flessibile della testa di sonda. Vantaggi: Eccellente versatilità per design in evoluzione. Considerazioni: Resistenza del cablaggio leggermente più alta, rendendolo meno adatto per test ad alta frequenza o bassa corrente. Caratteristiche Chiave e Vantaggi - Posizionamento preciso e misurazione accurata dei chip individuali: Progettato per la versatilità, facilmente ribaltabile per consentire il test di chip individuali dopo il taglio. Cornici guida opzionali e coperture di contatto semplificano l'allineamento dei chip e garantiscono una sonda precisa. - Manutenzione facile con sonde sostituibili: Mantieni prestazioni ottimali con un tempo di inattività minimo: il design consente di sostituire la sezione della sonda in modo indipendente, eliminando la necessità di smontare l'intero dispositivo. Risparmia sia tempo che costi di manutenzione. - Soluzioni personalizzate, da unità singole a produzione completa: Seiken collabora strettamente con i clienti per creare schede di sonda adattate a condizioni di test uniche e requisiti di sviluppo. Che tu abbia bisogno di un prototipo unico o di supporto alla produzione su larga scala, le soluzioni sono fornite per soddisfare le tue esigenze in ogni fase. Esempi di Applicazione - Test a livello di wafer - Verifica del design IC - Debugging, ecc. Caratteristiche / Specifiche Tecniche - Design di scheda di sonda di tipo verticale per test multi-die simultanei e di wafer completo - Supporta test ad alta frequenza e alta corrente - Teste di sonda realizzate in plastiche ingegneristiche (Sumika Super, Topfine) o ceramiche (Photoveel) - Opzioni di substrato PCB personalizzate e generali - Opzioni di connessione diretta e flessibile - Sezione della sonda sostituibile per una manutenzione facile - Personalizzabile per applicazioni specifiche del cliente - Compatibile con i principali produttori di tester