Sistema di smistamento per il riciclaggio KSS®

a raggi XXRFcon laser

Distinguere il rame dallo zinco con la fluorescenza a raggi X, anche con superfici rivestite L'analisi di fluorescenza a raggi X (XRF) è da tempo parte integrante dell'analisi chimica in laboratorio. La tecnologia della fluorescenza a raggi X ci offre un'ulteriore opportunità per ottenere una conoscenza più precisa dei materiali. Il nostro sistema di selezione STEINERT KSS | XF L utilizza quindi l'analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) per il rilevamento e la selezione, in base alla composizione elementare del materiale selezionabile. Ad esempio, il rame può essere distinto dall'ottone o dallo zinco grazie ai loro elementi intrinseci. Questo è possibile anche se le superfici sono molto sporche, come spesso accade con i metalli provenienti dall'incenerimento dei rifiuti. È anche possibile rilevare rottami metallici con rivestimenti metallici. Sebbene questa tecnologia riguardi esclusivamente la valutazione della superficie, le parti costitutive di nichel, rame e zinco in un pezzo di ottone nichelato sono chiaramente identificate e possono quindi essere utilizzate come informazioni per la decisione di selezione. Il sistema di cernita con sensore combinato STEINERT KSS | XF L combina il sistema di sensori XRF con il rilevamento 3D. La triangolazione laser viene utilizzata per il rilevamento preciso degli oggetti, consentendo una mappatura distinta di tutti i segnali rilevati. Questo migliora anche l'estrazione, riducendo significativamente il consumo di aria compressa. Con larghezze di lavoro disponibili di 1.000 mm e 2.000 mm, il sistema di selezione a raggi-X STEINERT KSS | XF L opera in modo ottimale in una gamma di granulometrie da 10 a 120 mm. I vostri vantaggi: KSS | XF L = sistema di cernita a sensori combinato con rilevamento 3D e sistema di sensori XRF Selezione in base alla composizione elementare mediante fluorescenza a raggi X